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RISE電鏡-拉曼一體化系統

SEM-Raman (RISE Microscopy)

RISE電鏡-拉曼一體化系統是一款新穎的顯微鏡技術，在一個集成的顯微鏡系統中結合了共焦拉曼成像和掃描電子顯微鏡技術，這種獨特的組合為顯微鏡用戶對樣品進行綜合表征，提供了明顯的優(yōu)勢。

掃描電子顯微鏡是一個很好的表征納米范圍內樣品表面結構的可視化技術，而共焦拉曼成像是表征樣品化學和分子組成的成熟光譜方法。RISE電鏡-拉曼一體化系統還可以同時得到樣品的2D、3D圖像，以及樣品中分子化合物組成的可視化分布結果。

**變革 全方位拓展分析

RISE Microscopy是一款創(chuàng)新性的產品，是世界上**臺真正實用化的掃描電鏡-拉曼光譜儀聯用系統。通過實現原位、快速、方便和高性能的拉曼分析，可以極大的拓展分析應用，在有機結構解析、碳結構解析、無機相鑒定、同分異構分析、結晶度分析等領域作出重大突破。

目前，RISE電鏡-拉曼一體化系統在地質、礦物晶體、高分子聚合物、醫(yī)學、生命醫(yī)藥、寶玉石鑒定等領域均有了非常豐富的應用。

無論您是怎樣的客戶 RISE顯微鏡都適合您

作為掃描電鏡用戶，您將會受益于拉曼光譜分析與掃描電鏡成像技術結合的優(yōu)勢。RISE顯微鏡采用平行軸設計，使得電鏡的各種探測器和附件（如BSE， CL， EDS等）在聯用系統中都可以配置使用。

作為拉曼光譜用戶，您將會體驗到掃描電鏡與拉曼光譜聯用分析的拓展性和易用性。傳統的拉曼光譜儀由于沒有光學物鏡，分辨率受限于激光束斑大小，難以達到理論上的衍射極限，處于幾個μm的水平。而RISE顯微鏡不但擁有高數值孔徑的光學物鏡聚焦激光束斑，還能夠通過束斑的掃描運動來進行成像，*終的拉曼圖像分辨率突破了傳統的衍射極限，達到了360nm(532nm激光)。

定制化系統功能：

q 平行軸式設計，保證樣品臺分別在電子束和激光束下的精準定位

q 基于TESCAN超大樣品倉定制，擁有豐富的接口和極強的承高承重能力

q 同時具備電鏡和光鏡，配合X-Position功能，實現和任意光學照片及Mapping數據的聯用

q 可集成電鏡的各種探測器和分析附件，進一步拓展分析應用

q 點、線、面的拉曼成像分析，疊加圖像能夠提供極其豐富的數據信息

q 突破傳統的衍射極限，拉曼圖像分辨率可達360nm (532nm激光)

q 共聚焦功能實現光學物鏡的三維逐層掃描，進行三維拉曼光譜成像

q 聯用系統的掃描電鏡部分和拉曼光譜儀部分可完全獨立使用

q 聯用系統可以集成在TESCAN任意掃描電子顯微鏡產品

無論哪個領域 RISE顯微鏡都會給您提供獨特的方案

RISE電鏡-拉曼一體化系統特別適合于有機結構解析、碳結構解析、無機相鑒定、同分異構分析、結晶度分析等領域的分析應用。目前，RISE顯微鏡在地質、礦物晶體、高分子聚合物、醫(yī)學、生命醫(yī)藥、寶玉石鑒定等領域均有了非常豐富的應用。

• 碳材料

• 有機材料

• 二維材料

• 無機材料

• 共聚焦分析

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