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Autoscan裂變徑跡測(cè)年分析系統(tǒng)
Autoscan裂變徑跡測(cè)年分析系統(tǒng)

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面議

型號(hào)

品牌

產(chǎn)地

澳大利亞

樣本

暫無
北京布拉德科技發(fā)展有限公司

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第3年

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Autoscan裂變徑跡測(cè)年分析系統(tǒng)在1983研發(fā)取得了成功之路,也為整個(gè)地質(zhì)探測(cè)市場(chǎng)帶來不少的驚喜和輔助功能,更為科技發(fā)展做出了不少的貢獻(xiàn),根據(jù)裂變徑跡長度的分布模擬熱演化歷史,也是比較新穎的技術(shù),依靠人力和眼睛是做不到的,而且采用的是全自動(dòng)研究級(jí)顯微鏡技術(shù),能夠?qū)⒓?xì)微的地質(zhì)情況清晰的分布和分辨出來,且分辨率也是相當(dāng)不錯(cuò)的,在應(yīng)用的基礎(chǔ)上也是比較簡(jiǎn)單的,今天我們所介紹的這款裂變徑跡測(cè)年分析系統(tǒng)在行業(yè)內(nèi)也是有一定的影響力的,不論是技術(shù)上還是功能上以及安全性上都是比較到位的。

設(shè)備優(yōu)勢(shì):

1、可在短時(shí)間內(nèi)對(duì)地質(zhì)進(jìn)行探測(cè);

2、設(shè)備設(shè)計(jì)比較小巧,方便外出攜帶;

3、技術(shù)成熟,性能穩(wěn)定可靠;

4、操作簡(jiǎn)單,沒有復(fù)雜的操作流程;

5、經(jīng)濟(jì)實(shí)用,節(jié)約成本和時(shí)間;

6、探測(cè)速度快,不浪費(fèi)時(shí)間和精力。

Autoscan裂變徑跡測(cè)年分析系統(tǒng)是一款比較出色技術(shù)又比較成熟的地質(zhì)勘探設(shè)備,測(cè)量徑跡與C軸的夾角、Dpar、Dper值,測(cè)量和統(tǒng)計(jì)限定型自發(fā)裂變徑跡長度,根據(jù)共生有機(jī)質(zhì)碎屑的鏡煤反射率值判定磷灰石是否已經(jīng)歷高溫重置過程,采用熱中子照射法測(cè)算從地質(zhì)體中采集的磷灰石或鋯石的退火年齡,今天我們所介紹的這款設(shè)備是比較適合地質(zhì)勘測(cè)使用的,也符合行業(yè)的標(biāo)準(zhǔn)和技術(shù)要求,并且具備了相關(guān)部門的質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn),也通過了整合市場(chǎng)的需求性進(jìn)行了技術(shù)上改造和技術(shù)提升。

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Autoscan裂變徑跡測(cè)年分析系統(tǒng)信息由北京布拉德科技發(fā)展有限公司為您提供,如您想了解更多關(guān)于Autoscan裂變徑跡測(cè)年分析系統(tǒng)報(bào)價(jià)、型號(hào)、參數(shù)等信息,歡迎來電或留言咨詢。
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