看了試驗箱干燥箱恒溫槽培養(yǎng)箱的用戶又看了
虛擬號將在 180 秒后失效
使用微信掃碼撥號
適用于電子電工產(chǎn)品、 儀器儀表、原材料、電子元件等高低溫適應(yīng)性試驗、低溫恒溫及儲存 特別適用于光纖、晶體、精密電感、PCB、LCD等產(chǎn)品的高低溫適應(yīng)性試驗。
技術(shù)參數(shù):
高低溫(交變)試驗箱/可程式高低溫測試箱的詳細(xì)資料:
WGD高低溫(交變)試驗箱
特點:
采用進(jìn)口可編程溫度器,無超調(diào)專家PID算法,溫度控制穩(wěn)定可靠,操作簡單,程式編輯容易;
獨特的進(jìn)風(fēng)循環(huán)系統(tǒng),避免了氣流在箱內(nèi)流通死角,提高了產(chǎn)品均勻度;
全封閉進(jìn)口壓縮機(jī)+環(huán)保冷媒+機(jī)械式單級/復(fù)迭低溫回路系統(tǒng),制冷效果好,可靠性高;
完善的安全保護(hù)裝置,確保產(chǎn)品的運行更加安全可靠;
多樣的溫度控制器可供用戶選擇;
用途
適用于電子電工產(chǎn)品、 儀器儀表、原材料、電子元件等高低溫適應(yīng)性試驗、低溫恒溫及儲存
特別適用于光纖、晶體、精密電感、PCB、LCD等產(chǎn)品的高低溫適應(yīng)性試驗。
滿足標(biāo)準(zhǔn)
1.GB/T10589-1989 低溫試驗箱技術(shù)條件;
2.GB/T11158-1989 高溫試驗箱技術(shù)條件;
3.GB/T10592-1989 高低溫試驗箱技術(shù)條件;
4.GB/T2423.1-2001 IEC60068-2-1 試驗 A規(guī)程: 低溫試驗方法;
5.GB/T2423.2-1989 IEC60068-2-2 試驗 B規(guī)程: 高溫試驗方法;
6.GB/T2423.22-1987試驗Nb溫度變化試驗方法;
7.GJB150.3-1986高溫試驗;
8.GJB150.4-1986低溫試驗;
9.IEC68-2-14 試驗N。
■ 附件
不銹鋼擱板 2 套,說明書 1 套,電纜孔(Φ 50 )蓋 1 個
■ 可選附件
增加擱板,RS232通信接口
注: *1、以上產(chǎn)品外尺寸不包含突出部分
2、以上技術(shù)參數(shù)在室溫23℃±2°C,無負(fù)荷條件下測得的數(shù)據(jù)
產(chǎn)品相關(guān)關(guān)鍵字:高低溫(交變)試驗箱;可程式高低溫測試箱;高低溫試驗機(jī)
暫無數(shù)據(jù)!