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Quanta™ 掃描電子顯微鏡
FEI QUANTA™產(chǎn)品系列包括6個(gè)變量的壓力和環(huán)境掃描電子顯微鏡（ESEM™）和兩個(gè)DualBeam™系統(tǒng)，所有這些都可以容納多個(gè)樣品和工業(yè)過(guò)程控制實(shí)驗(yàn)室，材料科學(xué)實(shí)驗(yàn)室和生命科學(xué)實(shí)驗(yàn)室的成像要求。Quanta系列的掃描電子顯微鏡，是一款多功能，高性能儀器與任何SEM系統(tǒng)的樣本，以適應(yīng)范圍*廣的三種模式（高真空，低真空和ESEM）。如能譜儀，波長(zhǎng)色散X射線光譜儀和電子背散射衍射分析系統(tǒng)，可配備所有的廣泛電腦掃描電鏡系統(tǒng)。
Quanta™ 掃描電子顯微鏡
? *小化樣品制備的數(shù)量，低真空和 ESEM 功能可實(shí)現(xiàn)絕緣及/或含水樣品的無(wú)荷電成像和分析? 通過(guò) Quanta 的“經(jīng)由透鏡”**壓差真空技術(shù)，可在高真空和低真空條件下對(duì)導(dǎo)電和絕緣樣品進(jìn)行 EDS 和 EBSD 分析，提高分析能力。穩(wěn)定的高射束電流（高達(dá) 2 μA）可實(shí)現(xiàn)快速準(zhǔn)確的分析? 使用原位樣品臺(tái)在 - 165 °C - 1500 °C 環(huán)境溫度條件下執(zhí)行各種自然狀態(tài)樣品的動(dòng)態(tài)原位分析? 使用可選的射束減速模式完成表面成像，以獲取導(dǎo)電樣品的表面和成分信息? 易用和直觀性令初學(xué)者也能進(jìn)行高效操作。
Quanta™ 掃描電子顯微鏡
分辨率 | 加速電壓 | 探針電流樣品臺(tái) | 放大率 | 試件室尺寸 | |
Quanta 50 系列 | 高真空 ·3.0 nm/30 kV (SE) ·4.0 nm/30 kV (BSE) ·10.0 nm/3 kV (SE) 低真空 ·3.0 nm/30 kV (SE) ·4.0 nm/30k V (BSE) ·10 nm/3 kV (SE) | 200 V - 30 kV | 高達(dá) 2 μA，可持續(xù)調(diào)節(jié) | 20 - 1000000 x （四象限視圖） | 左右寬 284mm-379mm |
Quanta 50 系列/配 FEG | 高真空 ·0.8 nm/30 kV (STEM)* ·1.0 nm/30 kV (SE) ·2.5 nm/30 kV (BSE) ·3.0 nm/1 kV (SE) 低真空 ·1.4 nm/30 kV (SE) ·2.5 nm/30 kV (BSE) ·3.0 nm/3 kV (SE) | 200 V - 30 kV | 高達(dá) 2 μA，可持續(xù)調(diào)節(jié) | 20 - 1000000 x （四象限視圖） | 284mm-379mm 內(nèi)徑（從左至右） |
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