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RHC020-氣氛控制掃描開(kāi)爾文探針
開(kāi)爾文探針是一種非接觸、非破壞性振動(dòng)電容裝置用于導(dǎo)電材料的功函或半導(dǎo)體或絕緣體材料表面的表面電勢(shì),表面功函由材料表面*頂部的1-3層原子或分子決定,因而開(kāi)爾文探針是一種非常靈敏的表面分析技術(shù),KP Technology公司目前可提供具有1-3 meV業(yè)界**分辨率的測(cè)試系統(tǒng) RHC020 是控制氣氛檢測(cè)樣品的理想解決方案,50x50mm樣品加熱器可將樣品溫度升至100℃,采用先進(jìn)的電子和硬件系統(tǒng)即時(shí)監(jiān)測(cè)溫度和濕度變化,附加表面光伏SPV020及表面光電壓譜SPS030模塊,可對(duì)光敏感樣品進(jìn)行強(qiáng)度或波長(zhǎng)可變的激發(fā)。
技術(shù)參數(shù): ● 2mm和50μm探針 ● 功函分辨率1-3meV(2mm探針),5-10meV(50μm探針,光學(xué)防震臺(tái)) ● 50mmX50mm**掃描面積 ● 318納米定位分辨率 ● 跟蹤系統(tǒng)自動(dòng)控制樣品和探針距離● 附加手動(dòng)高度控制(25.4mm KP 平移) ● 過(guò)零信號(hào)檢測(cè)系統(tǒng)抑制寄生電容 ● 50mmX50mm樣品加熱器 ● 自動(dòng)相對(duì)濕度控制至1%(10-100%RH)
選件 ● 直插型探針支架:2mm-50μm
● 自動(dòng)溫度控制 ● 表面光伏模塊SPV020和SPS030
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