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Microvision+LCD/ OLED顯示器測試
Microvision+LCD/ OLED顯示器測試

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美國

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廣州市固潤光電科技有限公司

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美國Microvision System成立于1993年,是全球顯示器測試系統(tǒng)的主要供應(yīng)商,可以檢測FPD CRT,PLASMA, HDTV, OLED, HUD, HDD投影機(jī)等,應(yīng)用于R&D, QC及工業(yè)測試。Microvision System以技術(shù)先進(jìn)的產(chǎn)品及完善的售后服務(wù),贏得用戶的尊敬。

系統(tǒng)功能說明:

Microvision顯示器測量系統(tǒng)可選擇兩種取樣探頭SS410及SS420,使用一組抵用平臺和控制電腦,經(jīng)由專業(yè)控制軟件,進(jìn)行顯示器光學(xué)特性的自動測量和分析。

VESA標(biāo)準(zhǔn) FPDM標(biāo)準(zhǔn), ISO9241-3XX標(biāo)準(zhǔn), ISO13406-2 標(biāo)準(zhǔn) TCO8.0測試標(biāo)準(zhǔn)

LCD顯示器測試 OLED顯示器測試 亮度測試 色彩均勻度測試 伽馬測試 視場角測試 消光系數(shù) 灰度轉(zhuǎn)換時(shí)間

SS445大屏幕顯示屏測量系統(tǒng)

系統(tǒng)簡介:

SS445是一款顯示屏測試系統(tǒng)專門設(shè)計(jì)于測量大屏幕顯示屏。這個包括了投影顯示屏高達(dá)電影院屏幕的尺寸,來自于任何一個現(xiàn)有的投影引擎技術(shù)。

系統(tǒng)采用了電動Pan & Tilt機(jī)械實(shí)現(xiàn)移動到所要的測試位置。系統(tǒng)配置了1.4MP CCD相機(jī)和/或者一個衍射光柵光譜儀。

在操作中,系統(tǒng)是固定在顯示屏的前方進(jìn)行測試的。模式發(fā)生器或者M(jìn)icrovision的MVRemote是用于自動顯示測試模式或者有需要的話可通過客戶的系統(tǒng)生成圖像。

SS445專門設(shè)計(jì)于從觀察器的角度來測量顯示屏,由于是真實(shí)可見的因此能更好地測量出顯示屏的性能。完全定義顯示屏可快速地測量出多個觀察器的位置。操作員進(jìn)入到所要的測試位置(X和Y或者像素坐標(biāo)),測試可實(shí)現(xiàn)全自動化,并且系統(tǒng)會自動找到以及在這些位置運(yùn)行所要進(jìn)行的測試。

測試性能:

SS445的測試性能包括了大型顯示屏的所有類型測試。 這些系統(tǒng)的性能都由安裝了什么傳感器來決定的(相機(jī)和/或者光譜儀)??偟目蓽y試參數(shù)如下:

CCD相機(jī):

- MTF

- 線寬

- 幾何圖

- 收斂測量

- 亮度均勻度

- Jitter, Swim, Drift

- 伽馬/灰階

光譜儀

- 亮度

- 色度和色溫

- 亮度和色彩均勻度

- 頻譜圖

- 伽馬

- 對比度

- 色差

SS445 規(guī)格參數(shù):

Pan&Tilt組件

- 分辨率:0.0032°

- 承載性能:9 lbs

CCD相機(jī)

- 圖像傳感器:1392x1040 pixels

- 數(shù)字視頻:12-Bit

- 元素尺寸:6.45 μm square pixels

- 同步:Synchronous Capture

- 視場:20mm @ 1m, adjustable

- 工作區(qū)域范圍:0.5 to 3.5 meters

- 數(shù)字變焦:Up to 32X

- 亮度精度:+/- 4% @ 2856k

- 亮度范圍:0.05 to 106 cd/m2 with ND Filters

- 測量時(shí)間:<1 sec for most measurements

光譜儀

- 波長范圍:380 to 780nm (1000nm opt)

- 亮度范圍:0.01 to 500K cd/m2

- 亮度精度:+/-3% @ 2856 illuminant A

- 亮度重復(fù)率:RSD over 30 minutes < 0.5%,0.01 cd/m2 sensitivity is specified at 3% RSD

- 色彩精度:+/- 0.002 @ 2856K

- 色彩重復(fù)率:+/- 0.0005 @ 2856K

- 集成時(shí)間:16.7 – 5000 msec (sync@60hz)

- 溫度控制:Computer Controlled

- 光學(xué):12mm Collimated

- 接受角度:1.5°

- 光學(xué)分辨率:3.8nmFWHM @ 100μm slit

- 校準(zhǔn):NIST Traceable

- 操作溫度:5° to 30°C

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10分

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10分

易用性

10分

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