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HORIBA納米粒度分析儀
HORIBA納米粒度分析儀

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日本

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天津東方科捷科技有限公司

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Horiba激光粒度儀SZ-100

-- 一臺儀器即可完成粒徑、Zeta電位、分子量測量

SZ-100可以方便的分析納米材料的諸多性質如粒徑、Zeta電位、分子量等,進而可以研究納米材料的分散性、穩(wěn)定性等;基于HORIBA公司獨特的光學設計,SZ-100**的測量性能和*寬的測量范圍(0.3nm-8 µm)不僅僅能滿足實驗室需求同時還能應用于工廠生產的高質量控制。

納米顆粒及生物樣品分析

在納米材料及生物材料領域,原料顆粒的粒徑大小和Zeta電位對產品的性能有顯著影響,因此保證產品質量的關鍵是控制納米顆粒原料質量,而實驗室使用的傳統(tǒng)儀器來分析超細顆粒需要專業(yè)的操作人員和復雜的操作過程。HORIBA公司研發(fā)的SZ-100分析儀使用光子相關光譜原理,其體積小操作簡單,不僅可以測量納米粒徑,還可測量Zeta電位、分子量。Zeta電位指示的是顆粒分散性、物理凝聚等性質,這使得SZ-100對更細致分析顆粒性質非常有用;同時其還可用于研究蛋白質和多聚體。由于具備這些功能,SZ-100是生產現(xiàn)場的質量控制過程中的質量分析工具,同樣這種高端儀器也多用于實驗室納米及生物新技術的研發(fā)。

主要特點:

1. *寬測量范圍:0.3 nm to 8,000 nm (8 µm) max

寬測量范圍,從亞納米大?。ǚ肿映叽绱笮。┑轿⒚壮叽缈捎肧Z-100一臺分析儀即可;

2. *少樣品量:測量Zeta電位僅需100µL,測量粒徑大小僅需12µL

非常適用于珍貴樣品如生物材料和納米材料樣品

3. 分析少量的稀溶液有**的靈敏度。

裝備高強度激光光源及獨特的Horiba光學系統(tǒng)設計,因而光噪音更低,靈敏度跟高

4. 一臺儀器即具備測量粒徑、Zeta電位、分子量三種納米顆粒研究*重要參數功能 (SZ-100Z mode)

主要應用:

陶瓷納米顆粒、金屬納米顆粒、碳黑、制藥、病毒研究、涂料、聚合物、食品、化學機械拋光、染料、膠體、蛋白質等

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10分

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10分

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