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顯微“變角度”光譜系統(tǒng)
*小 0.5° 角分辨 / 透反射 + 熒光 / 低溫 + 磁場 + 1.7 μm 近紅外
ARM 角分辨光譜儀 采用 焦平面 Fourier Transform **技術(shù),基于顯微平臺(tái),將角分辨光譜的“空間分辨率”提升至 μm 量級,**次實(shí)現(xiàn)了 角度 (k) + 空間 (x) + 光譜 (ω) 的三重分辨。優(yōu)化的集成設(shè)計(jì),快速在 透射 / 反射 / 輻射 (熒光) 等 9 種光譜模式間切換。*終為您帶來一款“更全面”的光譜測試平臺(tái)。
微區(qū)角分辨光譜系統(tǒng)
Nano Photonics 隨著以光子晶體、SPP 材料、超材料為代表的微納光子材料的開發(fā)和應(yīng)用,單純光譜分析技術(shù)已無法滿足完備表征該類光子材料光學(xué)性質(zhì)的需求,更精細(xì)化的角分辨光譜技術(shù)應(yīng)運(yùn)而生。
微腔光子器件 微腔光子器件受構(gòu)型影響,光學(xué)性質(zhì)具有角分布特征,需在不同角度下實(shí)現(xiàn)光譜探測。
超表面透鏡 利用超表面技術(shù)(meta-surface)設(shè)計(jì)的超表面透鏡具有強(qiáng)大的光場調(diào)控能力,能夠?qū)崿F(xiàn)亞波長的匯聚和微米級的聚焦,需要一種新型的基于顯微平臺(tái)的角分辨光譜探測手段。
ARM 角分辨光譜儀 在以上領(lǐng)域的應(yīng)用得益于如下幾個(gè)特點(diǎn): 1 超過 60° 的角度 ARM 優(yōu)選 Olympus 大 N.A. 平場復(fù)消色差物鏡,收集超過 60° 的角向輻射光譜;匹配智能算法,快速實(shí)現(xiàn)包括 透射 / 反射 / 輻射 (熒光) 等 9 種光譜測量模式; 2 達(dá) 5 個(gè)維度的空間選擇 ARM 內(nèi)置一個(gè)**設(shè)計(jì)的可調(diào) Aperture,可以實(shí)現(xiàn) X / Y 方向開口距離調(diào)節(jié),XY 兩維平面位置平移,及平面內(nèi) θ 方向旋轉(zhuǎn),準(zhǔn)確抓取 復(fù)雜形貌 的微區(qū)樣品; 3 *小 0.5° 角分辨率 ARM 采用特殊優(yōu)化的消色差、消相差光路,能夠?qū)⒔嵌确直媛侍嵘?0.5°,顯著提升光譜分析能力; 4 1.7μm 近紅外拓展 NEW 新一代**設(shè)計(jì)的 ARM 重新對角分辨光路系統(tǒng)進(jìn)行構(gòu)型,** 在近紅外波段 900~1700nm 實(shí)現(xiàn)角分辨光譜測量,對推動(dòng)光通訊、超表面、激光雷達(dá)等領(lǐng)域研究具有重要價(jià)值; 5 低溫 + 磁場拓展 新一代 ARM 也拓展了對低溫和磁場環(huán)境的支持,可適配*低 2.7K 低溫恒溫器 和** 5T 磁場強(qiáng)度 超導(dǎo)磁體; 6 除此之外,ARM 還可與外部光源及 Princeton Instruments 光譜儀銜接,實(shí)現(xiàn)包括時(shí)間分辨、空間相干性、瞬態(tài)光譜采集等功能。
技術(shù)起源:角分辨光譜技術(shù)(Angle-resolved Spectroscopy, ARS),誕生于復(fù)旦大學(xué),是一種 精細(xì)化的光譜技術(shù)。基于該技術(shù)而生的角分辨光譜儀具有在 不同角度下 探測材料光譜性質(zhì)的能力,突破傳統(tǒng)光譜技術(shù)不能分辨角度的局限,是獲取光子材料色散關(guān)系,實(shí)現(xiàn)光學(xué)性質(zhì)“全面表征”的重要且**手段,在 微納光子學(xué)、低維材料、發(fā)光材料 等領(lǐng)域具有重要應(yīng)用價(jià)值。
部分SCI標(biāo)注文獻(xiàn)
注:以上參數(shù)如有差異,以官網(wǎng)為準(zhǔn)
暫無數(shù)據(jù)!
產(chǎn)品質(zhì)量
售后服務(wù)
易用性
性價(jià)比
粗大粒子灰塵用清潔檢查燈ZEUS
LISICO 樂思科 傅里葉變換近紅外光譜儀 LS-100-Pro
PicoFemto掃描電鏡原位高溫拉伸臺(tái)
A500系列原子吸收分光光度計(jì)
光化學(xué)反應(yīng)儀BL-GHX-VK型
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