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Scanning Thermal probe system熱掃描探針系統(tǒng)，可以和任何主流的的AFM進行聯(lián)用?？梢酝瑫r獲得形貌 & 納米尺度的熱導率以及溫度分布，非常適合應用在納米線/碳纖維/聚合物復合材料等領(lǐng)域

模塊性能：

可以同時實現(xiàn)樣品表面形貌掃描和材料相關(guān)熱學性能測試

1） 溫度；

2） 溫度梯度變化曲線；

3） 定性熱導率；

4） 相變溫度；

5） 定性熱容量；

模塊優(yōu)勢：

1）高性價比，能實現(xiàn)熱學掃描及熱學性質(zhì)測試的功能，價格僅為其為同類產(chǎn)品的一半；

2）精細測量，能達到20nm區(qū)域測溫；

3）耐高溫，針尖在700℃高溫下也不易變形；

模塊掃描機制：

目前國內(nèi)的國家納米科學中心，中山大學，美國希捷硬盤公司在華的工廠均采購了這個模塊。

以下是一些典型的SThM熱導率測試以及溫度分布的測試案例：

1）左半部分納米線的形貌圖以及溫度分布的對應，右半部分為碳膜/Bi2Te3（熱電材料）的形貌圖以及熱導率圖對應。

2）碳纖維與環(huán)氧樹脂復合材料形貌與熱導率對應

3）聚合物纖維PCL-Coll_形貌與溫度分布對應