探測(cè)器：
BF、DF、HAADF加速電壓：
1kV-20kV連續(xù)可調(diào)電子槍?zhuān)?/p>肖特基場(chǎng)發(fā)射電子槍
電子光學(xué)放大：
2,000,000x光學(xué)放大：
27-160x分辨率：
優(yōu)于 1nm看了Pharos-STEM 掃描透射電子顯微鏡的用戶(hù)又看了
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Phenom Pharos 臺(tái)式場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡因其多功能性和**的成像性能贏得了良好的口碑 —— 即使是在傳統(tǒng)較難觀測(cè)的樣品中也表現(xiàn)優(yōu)異。直觀的用戶(hù)界面有助于將高分辨率圖像呈現(xiàn)給用戶(hù)， FEG 場(chǎng)發(fā)射電子源在 1-20kV 的加速電壓范圍內(nèi)都提供了高分辨率。
Phenom Pharos STEM 臺(tái)式場(chǎng)發(fā)射 SEM-STEM 電子顯微鏡，配備了 STEM 樣品杯，從另一個(gè)維度提高了其成像能力和應(yīng)用的多樣性。
作為全球**臺(tái)式場(chǎng)發(fā)射 SEM-STEM 電子顯微鏡，在較低的加速電壓下，減少了電子束對(duì)樣品的損傷，顯著提高了圖像的襯度。在臺(tái)式掃描電鏡下即可快速獲得高分辨的 BF 像、DF 像、HAADF 像，且支持用戶(hù)自定義成像。Pharos STEM 樣品杯為材料領(lǐng)域的研究提供了高效、全面的表征方式。
BF 像：主要是樣品正下方同軸的探測(cè)器接收透射電子和部分散射電子。影響明場(chǎng)像襯度（Contrast）的主要因素是樣品的厚度和成分。樣品越厚，原子序數(shù)（Z）越大，穿透樣品的電子越少，圖像就越暗，因此 BF 像對(duì)輕元素（Z 較?。┍容^敏感。
DF 像：主要是樣品下方非同軸位置的探測(cè)器接收散射電子信號(hào)。
HAADF 像：主要是接收高角度的非相干散射電子信號(hào)。原子序數(shù)（Z）越大，散射角也越大，原子核對(duì)入射電子的散射作用越強(qiáng)，圖像上更亮。因此又被稱(chēng)為 Z 襯度像。
三種成像模式各有特點(diǎn)，具有不同的成像優(yōu)勢(shì)，可以根據(jù)樣品情況搭配使用，成像結(jié)果進(jìn)行互相驗(yàn)證。
煙草花葉病毒的BSE 像、BF 像、 DF 像和 HAADF 像
對(duì)比掃描電鏡的背散射電子圖像（BSE），桿狀的煙草花葉病毒在 BF 模式下更加直觀。BF 模式更適合觀察輕元素（Z 較小），輕元素散射作用較弱，因此在 HAADF 模式下較難清晰觀測(cè)細(xì)節(jié)。
而桿狀煙草花葉病毒周?chē)^厚的脂質(zhì)球，電子較難穿透，BF 像上相對(duì)較暗。在 DF 模式下，密度較大的脂質(zhì)球表現(xiàn)出較強(qiáng)的衍射，因此在 DF 像上相對(duì)較亮。
規(guī)格參數(shù)：
系統(tǒng)兼容：Phenom Pharos G2 臺(tái)式場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡
樣品兼容：? 3 mm TEM 載網(wǎng)(夾具固定)
成像時(shí)間：< 40 s*
成像模式：BF、DF、HAADF、 自定義**
成像工作流程：固定的 WD，設(shè)置**的探測(cè)器 ，完全集成的 UI
真空度：0.1, 10 & 60 Pa
分辨率：優(yōu)于 1 nm
* 加載樣品到呈現(xiàn)圖像的時(shí)間
** STEM 具有 11 分割探測(cè)器，用戶(hù)可以對(duì)其進(jìn)行自定義選擇
Pharos STEM 電子顯微鏡，利用 FEG 高亮度電子源，可在透射模式下對(duì)薄樣品進(jìn)行成像。專(zhuān)用的樣品夾可輕松裝載常規(guī) 3mm 直徑透射電鏡 (TEM) 載網(wǎng)，實(shí)現(xiàn)樣品的快速、安全切換。STEM 樣品杯可提供明場(chǎng) (BF) 、暗場(chǎng) (DF) 和高角度環(huán)形暗場(chǎng) (HAADF) 像，并支持自定義選擇成像模式。
今年 11 月 2 日起，每日早七點(diǎn)至晚八點(diǎn)，包括延安高架、南北高架在內(nèi)的多條道路禁止“外牌”、“臨牌”小客車(chē)、未載客的出租車(chē)等通行。因?yàn)樾履茉雌?chē)車(chē)牌較容易獲得，不少人轉(zhuǎn)投新能源汽車(chē)，因此帶動(dòng)了新能
2020-12-21
隨著鋼鐵行業(yè)進(jìn)入微利時(shí)代，生產(chǎn)具有更高附加值的高品質(zhì)潔凈鋼也成為鋼鐵企業(yè)自身發(fā)展的需求。因此，潔凈鋼技術(shù)研究及其生產(chǎn)工藝控制技術(shù)目前已是各鋼鐵企業(yè)的重要課題。生產(chǎn)潔凈鋼的關(guān)鍵在于減少鋼中的雜質(zhì)，而控制
2020-12-21
2020-12-21
INVITATION 第二屆人工智能傳感器與換能器國(guó)際會(huì)議將于 7 月 29 日- 8 月 3 日在馬來(lái)西亞吉隆坡舉辦。我們誠(chéng)摯邀請(qǐng)您參加并蒞臨我們的【2】號(hào)展位，與技術(shù)銷(xiāo)售工程師 Vinc
近日，揚(yáng)州小天光子科技有限公司（以下簡(jiǎn)稱(chēng)“小天光子”）成功引入桌面掃描電鏡領(lǐng)導(dǎo)者---飛納電鏡旗下的旗艦設(shè)備 Phenom ProX G6 掃描電鏡能譜一體機(jī)，并順利完成了安裝與驗(yàn)收，正式投
汽車(chē)清潔度管控 Phenom Scientific 清潔度一般指汽車(chē)零件、總成及整機(jī)等部位被顆粒物污染的程度，用規(guī)定的方法從特定的部件采集到顆粒物的質(zhì)量、大小、形狀、
摘要：隨著汽車(chē)工業(yè)對(duì)質(zhì)量與可靠性的要求日益提升，汽車(chē)清潔度檢測(cè)已成為保障關(guān)鍵零部件穩(wěn)定運(yùn)行的核心環(huán)節(jié)。傳統(tǒng)方法難以滿(mǎn)足對(duì)微小顆粒的識(shí)別需求，因此，先進(jìn)的掃描電鏡（SEM）技術(shù)正被廣泛應(yīng)用于清潔度分析領(lǐng)
掃描電鏡（SEM, Scanning Electron Microscope）作為半導(dǎo)體行業(yè)中不可或缺的高精度檢測(cè)工具，憑借其納米級(jí)分辨率和強(qiáng)大的表征能力，已廣泛應(yīng)用于芯片制造、材料開(kāi)發(fā)、失效分析、工
掃描電子顯微鏡樣品制備全攻略：從原理到實(shí)踐掃描電子顯微鏡（SEM）是研究材料微觀結(jié)構(gòu)的重要工具，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、半導(dǎo)體、生物醫(yī)學(xué)、地質(zhì)等領(lǐng)域。經(jīng)過(guò)半個(gè)多世紀(jì)的發(fā)展，現(xiàn)代掃描電鏡不僅具備高分辨率形貌
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