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穿透式影像檢測系統(tǒng)品牌
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phoenix的micromelx neo和nanomelx neo 系列產(chǎn)品將高分辨率的2D X射線技術(shù)和3D CT技術(shù)**地集成于一套系統(tǒng)。多項(xiàng)獨(dú)特的創(chuàng)新設(shè)計(jì)，以及極高的定位精度，使得這套系統(tǒng)成為科學(xué)研究、缺陷分析、過程和質(zhì)量控制等領(lǐng)域可靠有效的解決方案。
| 全新鉆石靶材 | FLASHTM |
| Planar CT平面CT系統(tǒng)，提供切片以及整個(gè)立體結(jié)構(gòu)的影像 | |
左上：完成Planar CT 后，無上下重迭影像 右下：傳統(tǒng)2D影像，影像重迭較難分析 | |
| 標(biāo)準(zhǔn)CT計(jì)算機(jī)斷層掃描 | |
打線影像 | |
高解析CT隱用，可以找出半導(dǎo)體封裝常見缺陷
CT影像適合針對RD硏究分析或是缺陷樣品進(jìn)行細(xì)微分析與觀察
低voxel size可達(dá)2um, 特殊條件下可以更低
輕癮完成大型電路板的2D切片以及3D影像
無須裁切大型電路板，并且針對多層結(jié)構(gòu)不會(huì)有重迭影像的問題
透過軟件簡軍快速地進(jìn)行濾波效果
將黑白對比更突顯出來，有效的觀察缺陷位置
高輸出功率以及高分辨率
在長時(shí)間使用下可以穩(wěn)定焦點(diǎn)
CT掃描速度提高2倍
暫無數(shù)據(jù)！
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