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CSU030D 切磨片宏觀缺陷檢測(cè)設(shè)備品牌
中科慧遠(yuǎn)產(chǎn)地
河南樣本
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CSU030D 切磨片宏觀缺陷檢測(cè)設(shè)備
CSU030D設(shè)備為中科慧遠(yuǎn)針對(duì)以SiC為代表的化合物半導(dǎo)體晶片加工過程中外觀類缺陷進(jìn)行宏觀檢測(cè)的缺陷檢測(cè)設(shè)備。
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