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A3-SRmapping系列在線膜厚檢測系統(tǒng)品牌
昆山勝澤產(chǎn)地
江蘇樣本
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1)和材料有關(guān)
2)測量基于Si02on si結(jié)構(gòu)
3)測量基于對于500納米Si02onSi結(jié)構(gòu),重復(fù)30次的1階標(biāo)準(zhǔn)偏差
4)對于Si02on Si標(biāo)準(zhǔn)樣品,每天測三次,取平均值,重復(fù)30天取1階標(biāo)準(zhǔn)偏差
暫無數(shù)據(jù)!