參考價(jià)格
50-60萬(wàn)元型號(hào)
AFM5300E品牌
日立產(chǎn)地
日本樣本
暫無(wú)分辨率：
·重現(xiàn)性：
·儀器原理：
圖像分析分散方式：
·測(cè)量時(shí)間：
·測(cè)量范圍：
直徑≤25mm，厚度≤10mm看了環(huán)境多功能原子力顯微鏡的用戶又看了
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面議 | 型號(hào)： | AFM5300E | |
| 品牌： | 日立 | 產(chǎn)地： | 日本 |
| 樣本： | 【暫無(wú)】 | 信息完整度： | |
| 典型用戶： | 0 |
| 儀器種類： | 原子力顯微鏡 | 樣品臺(tái)移動(dòng)范圍： | 150mm*150mm |
| 樣品尺寸： | 直徑≤25mm，厚度≤10mm | 定位檢測(cè)噪聲： | |
| 價(jià)格區(qū)間： | 產(chǎn)地類別： | 進(jìn)口儀器 |
AFM5300E是一款環(huán)境型原子力顯微鏡，它的環(huán)境控制單元可以使樣品在大氣中、真空中、溶液中等環(huán)境中進(jìn)行測(cè)量。AFM5300E還具有高低溫控制功能，可以檢測(cè)溫度對(duì)樣品表面形貌和物理特性的影響。
AFM5300E能夠?qū)崿F(xiàn)高真空的測(cè)試環(huán)境，**限度減小樣品表面吸附水對(duì)測(cè)試的影響，實(shí)現(xiàn)精確的物理特性測(cè)量。
真空環(huán)境下可以實(shí)現(xiàn)更大范圍的溫度控制。另外，新開發(fā)的『溫度掃描功能』可監(jiān)視樣品Z方向的熱脹冷縮，通過(guò)控制反饋信號(hào)，使懸臂在變溫環(huán)境下連續(xù)測(cè)試樣品表面的物理特性。
（**3857581號(hào)、**3926638號(hào)）
●大氣中 ●液體中 ●真空中 ●特殊氣氛（流量控制）
●溫度控制
加熱?冷卻(-120～300℃) 高溫(室溫～800℃)
●濕度控制(0～80%)
●外加磁場(chǎng)（水平、垂直、面內(nèi)旋轉(zhuǎn)、max 5000 Oe
）
通過(guò)采用『綜合型Holder Flange開合功能』，樣品和掃描器更換更為方便的同時(shí)，免去了以往環(huán)境型SPM的樣品更換后的所需的光軸調(diào)整。 也省去測(cè)試模式切換時(shí)的支架更換環(huán)節(jié)。
采用了『Swing Cancel功能』，減輕了樣品的浮動(dòng)，降低了漂移。提高了納米分析性能，提升了可信度。 漂移量：0.015nm/sec以下
真空環(huán)境下減輕樣品表面吸附的水分和污染物的影響，因而實(shí)現(xiàn)高分辨高靈敏的電學(xué)性能分析。
1. 環(huán)境控制功能（大氣，真空，液體，溫控等）
2. 簡(jiǎn)便操作（綜合型Holder Flange）
3. 卓越的高性能
4. 通過(guò)減輕表面吸附水的影響，提高了電氣性能的檢測(cè)精度
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