2008年12月16日，北京粉體技術協(xié)會和英國馬爾文儀器有限公司聯(lián)合舉辦的“納米顆粒表征及應用技術研討會”在北科大廈報告廳順利召開。出席本次會議的有科研院所、高等院校以及相關企業(yè)的70多位相關人員，會議內容涉及納米顆粒粒度分布測量、Zeta電位測量、納米樣品分散等技術原理與應用及納米技術相關標準現(xiàn)狀的介紹。





       “納米顆粒表征及應用技術研討會”會議現(xiàn)場

    會議伊始，國內粉體行業(yè)知名專家、北京粉體技術協(xié)會理事長胡榮澤教授作了“超微粉粒度分布測量”學術報告：主要介紹了已有的超微粉粒度分布測量方法、分散方法、不同儀器測試結果不同的原因以及粒度儀的選擇要點。



        胡榮澤教授：“超微粉粒度分布測量”學術報告

    北京市理化分析測試中心物理室主任、北京粉體技術協(xié)會副理事長兼秘書長周素紅在“納米技術相關標準現(xiàn)狀”報告中，介紹了標準的分類、與納米相關的國際標準化組織及國內納米材料標準化現(xiàn)狀及進展。



        周素紅高工：“納米技術相關標準現(xiàn)狀”

    以“納米測量技術最新進展”、“納米樣品分散技術及應用”為主題，馬爾文公司專業(yè)技術人員的報告內容豐富——涵蓋納米檢測技術概述、動態(tài)光散射原理和最新進展、靜態(tài)光散射和分子量的測定、多普勒電泳光散射和Zeta電位測定、顆粒間相互作用和高濃度樣品測定等。



       馬爾文儀器(中國)公司總經理秦和義先生解答用戶問題

    在報告中，馬爾文公司提到其最新推出的納米粒度儀Zetasizer APS和Zetasizer μV。這兩款新品指向生物領域應用，為蛋白質表征而設計。Zetasizer APS可對行業(yè)標準96或384孔載樣板中的樣品進行自動化動態(tài)光散射測量；Zetasizer μV則是對馬爾文已有Zetasizer系列產品在應對高靈敏度和小容量測試需求上的補充。

　　本次大會是北京粉體技術協(xié)會今年以來在顆粒表征技術方面參與主辦的第一場學術性質的會議，協(xié)會明年將主辦更多介紹該領域技術及相關進展的類似會議。