中國粉體網訊 7月25-29日，國際黏土學會（AIPEA）第17屆黏土大會與美國黏土學會（CMS）第59屆年會聯(lián)合會議在土耳其伊斯坦布爾隆重召開。

會上，國際黏土學會主席Reiner Dohrmann教授宣布，將國際黏土學會第8屆“杰出成就獎”（AIPEA Medal）授予中國科學院廣州地球化學研究所何宏平研究員和美國印第安納大學榮譽退休教授David Bish博士。

AIPEA MEDAL

Dohrmann教授在宣讀授獎理由時指出，何宏平研究員在層狀硅酸鹽礦物的演化及礦物生長機制、黏土礦物微結構與表征技術，以及黏土礦物資源利用等方面取得了系列創(chuàng)新成果，推動了黏土礦物學學科的發(fā)展和與其它學科的交叉融合。

何宏平研究員

所謂：“工欲善其事必先利其器”，中國科學院礦物學與成礦學重點實驗室和廣東省礦物物理與材料研究開發(fā)重點實驗室共同搭建了8大實驗平臺，為何宏平研究團隊斬獲大獎提供了強有力的科研支撐。其中，礦物學研究平臺配置了Zeta電位及粒度分析儀、激光粒度分析儀、比表面積與孔隙度分析儀、同步熱分析儀、接觸角測量儀、電化學工作站等儀器設備，可滿足礦物樣品表面性質（表面電位、親疏水性）、粒徑（從納米到微米）、比表面積和孔結構、熱性能、光電性能等分析測試。

成都精新激光粒度儀

實驗室配置型號（JL-1177）

主要技術參數(shù)

（1）測量范圍為0.01~3000μm；測量精度：≤1%.

（2）內置60W超聲波分散器；光路系統(tǒng)為倒置傅里葉光學系統(tǒng)。

（3）配備進口半導體激光器，主光源波長為650nm，功率最大為30mW；輔助光源波長為405nm，功率最大為20mW。

（4）具有自動吸水、自動對中、自動測試、自動清洗、超聲波防干燒等智能功能；

（5）測量參數(shù)包括累積百分比粒徑、粒度分布表、粒度分布曲線，同時提供D₃、D₁₀、D₂₅、D₅₀、D₇₅、D₈₄、D₉₀、D₉₇、體積平均粒徑、面積平均粒徑、比表面積等數(shù)據(jù)。測試數(shù)據(jù)有自由分布、對數(shù)正態(tài)分布、R-R分布等多種分布模式。

馬爾文帕納科Zeta電位及激光粒度分析儀

實驗室配置型號（MalvernZetasizerNanoZS90）

Zeta電位

（1）測量范圍3.8nm~100μm（直徑）；原理為電泳光散射法。

（2）精確度0.12μm·cm/V·s；靈敏度10mg/mL（BSA）。

分子量

（1）測量范圍9800Da~20MDa*；測量原理靜態(tài)光散射法，使用德拜圖。

（2）最小樣品容積為20μL，需要3~5種樣品濃度；精確度：±10%。

美國Micromeritics比表面積與孔隙度分析儀

實驗室配置型號（ASAP2020）

技術參數(shù)

（1）比表面積測量范圍0.0005~無上限m²/g；孔徑分析范圍3.5~5000Å。

（2）最小孔體積檢測：0.0001cc/g；微孔區(qū)段分辨率：0.2Å。

（3）測試類型：比表面分析（可以得到BET比表面積）、介孔分析（可以得到BET比表面積、吸脫附等溫線、總孔體積、BJH孔徑分布）等。

寫在最后

隨著粉體深加工技術研究不斷深入，粉體表征設備的作用越來越凸顯，所謂“君子善假于物也”，科技進步往往是相互促進，相輔相成的。

信息來源：中科院廣州地化所、粉體網等

（中國粉體網編輯整理/昧光）

注：圖片非商業(yè)用途，存在侵權告知刪除！