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國家標準《納米粉末粒度分布的測定一X射線小角散射法》獲中國標準創(chuàng)新貢獻獎


來源:粉末冶金工業(yè)


    由中國有色金屬工業(yè)協會提出。鋼鐵研究總院張晉遠、柳春蘭、鄭毅、方建鋒、朱瑞珍、金成海等起草的《納米粉末粒度分布的測定一X射線小角散射法》國家標準GB/T13221—2004,日前經中國國家標準化管理委員會和國家質量監(jiān)督檢驗檢疫總局審評,榮獲2006年中國標準創(chuàng)新貢獻二等獎,為推動中國標準的創(chuàng)新做出了突出貢獻。

    納米標準化是一項面向全新領域、具有前瞻性的標準化工作,涉多學科、多領域。納米材料標準的研究與制定,目前世界各國正處在起步階段,我國納米材料標準化工作于2001年正式立項啟動。2004年9月,國家發(fā)布了首批7項納米材料和檢測方法國家標準。通過納米標準的實施,來規(guī)范納米材料的市場秩序,為我國納米科技的研究開發(fā)和納米材料產業(yè)化的健康發(fā)展保駕護航。

    本標準規(guī)定了利用X射線小角散射技術測定納米粉末粒度分布的方法。它適用于測定顆粒尺寸在(1~300)nm范圍內粉末的粒度分布,對于各種無機、有機乳液中顆粒尺寸的測定,也可參照執(zhí)行。其粒度分析結果所反映的既非晶粒亦非團粒,而是一次顆粒的尺寸,即使它們發(fā)生團聚時,也不會對測定結果產生重大影響。另外,在測定中參與散射的顆粒一般高達數十億個,在統計上有充分的代表性,數據重復性良好。當顆粒形狀偏離球形時,本方法給出的為等效散射球直徑。對于多孔材料,當骨架的尺寸為微米量級時,本方法也可用來測定其中的納米孔徑分布。

    本標準起草人積40余年的實踐經驗,以堅實的理論基礎和大量的試驗驗證數據為依據,規(guī)范了X射線小角散射粒度分析的儀器要求、實驗條件、樣品制備、操作方法、數據的采集和處理以及結果的報出等重要環(huán)節(jié),為測定量值的準確和統一起到了可靠的保證。本標準中所采用的數據處理方法由標準主要起草人提出,并已納入相應的ISO/TS13762中。還開發(fā)了相關的計算機軟件,使這項復雜的測試分析工作變得簡便易行,大大促進了本標準的推廣實施。
              
                
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