中國粉體網訊 石英雜質的檢測與表征是提純研究的基礎，判斷石英礦物能否作為高純石英原料，以及了解加工提純的高純石英砂產品質量情況，均需要通過實驗分析檢測技術開展研究。
原礦主量和微量元素分析
電感耦合等離子體發(fā)射光譜法（ICP-OES）為檢測高純石英雜質的主要方法，采用ICP-OES對原礦微量元素含量檢測需對原料樣品進行前處理，主要是避免環(huán)境對樣品的污染，連生礦物清除和表面粘連清洗等。采用X射線熒光光譜法（XRF）可對原礦的主量元素含量檢測，但是對于高二氧化硅含量的原礦需采用化學分析法（比重法）。
包裹體分析
石英包裹體的常用檢測手段包括光學顯微鏡分析、電子探針微區(qū)能譜分析、激光拉曼光譜分析、顯微冷熱臺分析、熱解氣相色譜/質譜法和激光剝蝕電感耦合等離子體質譜分析等。
電子顯微鏡可用于觀察石英粒間與粒內顯微特征，定性、半定量描述共伴生石英礦物特征和粒內固、液、氣相包裹體特征，可較大程度定性判斷原料的優(yōu)劣和砂樣品質。電子顯微鏡在原料的初步判別階段發(fā)揮出重要的作用，可排除80%以上的不利樣品。
電子探針(EPMA)是常規(guī)的化學成分分析技術，包括X射線能譜定量分析技術等，其結合能譜儀能夠在光薄片上直接進行顯微形態(tài)觀察與測定，礦物包裹體、類質同象礦物研究和全巖快速分析。通過分析礦物包裹體的成分以及包裹體內的元素種類，即可判斷哪些元素是以礦物包裹體的形式存在于石英中，查明某些元素的賦存狀態(tài)。
激光拉曼光譜儀可進一步用于石英粒內氣液包裹體定性研究，研究陽離子金屬雜質元素種類，氣體包裹體成分。流體包裹體激光拉曼光譜分析主要受到樣品、熒光、同位素、光化學反應、水溶性物質信號弱、氣相水及水合物、子礦物等因素的影響。由于用來進行定量分析的拉曼散射截面參數(shù)明顯受到壓力影響，加上峰面積計算不規(guī)范化使得目前的流體包裹體激光拉曼光譜分析結果多數(shù)局限于定性分析或半定量分析階段。
離子色譜儀可進一步用于石英粒內氣液包裹體研究，研究陰離子、陽離子種類和含量。
晶格雜質分析
傅里葉變換紅外光譜儀：可用于石英發(fā)生類質同象替換程度的研究，也能確定石英中水的定量分布和形態(tài)。
激光剝蝕電感耦合等離子質譜儀（LA-ICP-MS）：能夠分析幾十種元素且具有較低的檢測限和足夠高的精度，另外，此方法還可以判斷石英雜質元素賦存狀態(tài)，區(qū)分晶格雜質與包裹體雜質類型。
陰極發(fā)光(CL)：可以靈敏地反映晶體種類、晶格缺陷、有序度、微觀結構、雜質元素、晶體生長的物化條件，以及各種相關的外界影響因素等多方面信息。
礦物解離分析
礦物解離分析（MLA）可以半定量分析微量雜質形態(tài)、連生體等，可以自動測定樣品中礦物的粒度、解離度以及微量礦物的相對含量等參數(shù)�？梢酝瓿墒⒓捌涔舶樯V物物質組成、成分定量、嵌布特征、粒級分布、礦物解離等分析，包含礦物顆粒的尺寸、礦物組成、元素組成等，對于查明石英中的雜質具有重要作用，可用于選礦提純各關鍵階段工藝礦物學研究。
產品質量分析
采用四氯化硅揮發(fā)重量法對產品二氧化硅含量檢測。采用電感耦合等離子體發(fā)射光譜法（ICP-OES）對產品微量雜質元素含量檢測，可用于高二氧化硅含量的原礦、中間產品和最終產品進行檢測。由于ICP-OES對金屬元素具有良好的檢出限，技術成熟，并具有檢測時間短、靈敏度高、精確度高、自動化等特點，是高純物料微量化學成分檢測，也是目前國內高純石英雜質含量測定方法�！陡呒兪⒅须s質含量的測定方法——電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜法》（JC/T 2027-2010）適用于3N-5N高純石英原料和制品的鋁、鋇、鈣、鈷、鉻、銅、鐵、鉀、鋰、鎂、錳、鈉、鎳、磷、鈦、釩、鋅17項雜質元素測定。
參考來源：
林敏等.高純石英（SiO2）評述（三）：流體包裹體的分析、活化與分離
魏嬌陽等.高純石英砂提純技術研究進展
唐春花等.高純石英用硅質原料地質勘察中的基本概念和關鍵技術
王云月等.高純石英原料特征和礦床成因研究現(xiàn)狀綜述
（中國粉體網編輯整理/初末）
注：圖片非商業(yè)用途，存在侵權告知刪除！
