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SiC單晶生長:三大方法優(yōu)劣全解析


來源:中國粉體網(wǎng)   空青

[導(dǎo)讀]  主流的碳化硅長晶技術(shù)主要包括物理氣相沉積法(PVT)、液相生長法(LPE)、高溫化學(xué)氣相沉積法(HTCVD)。

中國粉體網(wǎng)訊  目前,主流的碳化硅長晶技術(shù)主要包括物理氣相沉積法(PVT)、液相生長法(LPE)、高溫化學(xué)氣相沉積法(HTCVD)。


物理氣相沉積法(PVT)


PVT法生長SiC單晶涉及許多復(fù)雜的過程,其工作原理是通過感應(yīng)線圈將坩堝加熱到2000-2400℃,在坩堝內(nèi)建立一個自下而上遞減的溫度梯度,促進SiC粉末的升華,然后SiC轉(zhuǎn)移到籽晶上,通過沉積形成單晶。  


PVT法SiC單晶生長裝置結(jié)構(gòu)圖


優(yōu)點:PVT法生長設(shè)備要求低,生長過程簡單,可控性強,技術(shù)發(fā)展較為成熟,已經(jīng)實現(xiàn)了產(chǎn)業(yè)化應(yīng)用,國內(nèi)開始逐步實現(xiàn)8英寸襯底的大量量產(chǎn)。


缺點:PVT法位錯密度仍然較高,這對器件的性能和壽命有非常不利的影響;其次還存在擴徑難度大、成品率低、成本高等局限性。

      

技術(shù)難點

1)晶型控制難度大。在PVT法生長SiC單晶過程中,容易產(chǎn)生晶型轉(zhuǎn)變導(dǎo)致多晶夾雜。

2)溫度精度調(diào)控挑戰(zhàn)大。其在大尺寸晶體生長時,爐內(nèi)及生長界面溫度控制難度劇增,嚴(yán)重影響質(zhì)量。國內(nèi)廠商例如科友半導(dǎo)體、優(yōu)晶光電等也在電阻加熱生長SiC單晶方面做了大量研究并取得了一定的進展。

3)氣體輸運與反應(yīng)優(yōu)化需求迫切。PVT法高度依賴高溫氣體輸運與反應(yīng)過程。優(yōu)化氣體流動和反應(yīng)動力學(xué)條件,以提高生長效率和減少雜質(zhì)摻入,是亟待解決的核心問題。


高溫化學(xué)氣相沉積(HTCVD)


高溫氣源法又稱為高溫化學(xué)氣相沉積(HTCVD)法。HTCVD法是對傳統(tǒng)CVD技術(shù)的一種改進,它利用硅烷(SiH4)和碳?xì)浠衔铮ㄈ鏑2H4、C3H8)作為硅源和碳源,在2100~2300℃的高溫下發(fā)生化學(xué)反應(yīng),生成SiC并沉積在籽晶上形成單晶。



優(yōu)點:HTCVD法有晶體質(zhì)量高、長晶速度快、可以實現(xiàn)連續(xù)加料等優(yōu)點。另外,該法生長SiC晶體的速率要比其他方法更快。


缺點:由于生長設(shè)備和高純氣體價格不菲,導(dǎo)致該方法生產(chǎn)成本較高,商業(yè)化進程緩慢。目前主要用來制備半絕緣型SiC襯底。


技術(shù)難點

1)氣源分解速度不穩(wěn)定(過快或過慢),易導(dǎo)致設(shè)備進氣口堵塞,這使得HTCVD法生長SiC單晶設(shè)備的穩(wěn)定性較差;

2)對于HTCVD法的相關(guān)研究不充分,工藝尚不成熟,依然處于研發(fā)階段。


據(jù)資料顯示,日本電裝(Denso)公司于2009年成功使用HTCVD法生產(chǎn)出了低缺陷密度的SiC晶錠,并于2023年對外宣布可以通過HTCVD法量產(chǎn)8英寸的SiC單晶。國內(nèi)企業(yè)超芯星于2019年10月全國首推出大尺寸擴徑碳化硅單晶(163mm約6.5英寸);2020年,超芯星推出了國內(nèi)首臺套HTCVD碳化硅單晶生長設(shè)備。


液相法(LPE)


液相法常用的是頂部籽晶溶液生長法(TSSG),生長溫度通常在2073K左右,比PTV法的生長溫度低。在生長過程中,把籽晶固定在吊桿上,通過對石墨坩堝中含有Si的助熔劑進行加熱使之成為熔融態(tài),而石墨坩堝則為晶體生長提供C源,溶液隨著坩堝內(nèi)部的對流流向籽晶方向,傳輸?shù)阶丫П砻孢M行SiC晶體的生長。


液相法生長SiC晶體示意圖


優(yōu)點:位錯密度低,長晶速率快,結(jié)晶質(zhì)量高,摻雜可控性強。

缺點:生長過程中的溫度梯度難以精確調(diào)控、生長速率與結(jié)晶質(zhì)量不平衡、晶體表面形貌粗糙以及溶劑夾雜等問題仍然限制了該方法的快速發(fā)展。


技術(shù)難點

1)助溶劑的比例調(diào)控(充分考慮溶C的促進作用,排除雜質(zhì)影響發(fā)前提下促使C濃度更高,驅(qū)動著長晶進行);

2)溫場控制(溫場的材料依賴于進口,成本居高不下)溫度梯度的穩(wěn)定性和對稱性;

3)籽晶系統(tǒng)需進行高精度控制,確保生長過程穩(wěn)定。


近年來,日美等高校與公司均開展了大量SiC晶體液相法生長的研究,日本的名古屋大學(xué)東京大學(xué)和產(chǎn)綜研等科研院所已經(jīng)開展了較為成熟的液相法研究,已經(jīng)可以制備出4英寸或6英寸的SiC單晶。中國科學(xué)院物理所的陳小龍團隊在國際上首次生長出了直徑2-4英寸、厚度4-10mm、單一晶型的3C-SiC單晶。2023年天岳先進采用液相法制備出了低缺陷的8英寸晶體;晶格領(lǐng)域?qū)崿F(xiàn)了液相法碳化硅生長產(chǎn)業(yè)化技術(shù)成果轉(zhuǎn)化落地。


來源:

楊皓等:碳化硅單晶制備方法及缺陷控制研究進展

粉體網(wǎng):液相法碳化硅單晶生長技術(shù)研究進展綜述

顧鵬等:頂部籽晶溶液法生長碳化硅單晶及其關(guān)鍵問題研究進展


(中國粉體網(wǎng)編輯整理/空青)

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