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RC2200電阻法（庫爾特）顆粒計數(shù)器是珠海歐美克儀器有限公司在20多年相關方法儀器開發(fā)和應用經驗基礎上，結合當前工業(yè)領域對細顆粒高分辨力粒徑測量和高準確性計數(shù)的需求，升級的新一代高性能儀器。該儀器采用新一代低延時高頻數(shù)據(jù)采集電路和低噪音芯片，升級了電磁屏蔽設計和體積計量裝置，使用進口品牌長壽命管路及控制器件，結合一致性的攪拌裝置工裝限位，替代氣壓的液壓排堵和排氣泡功能，新增的可選30、280μm等小孔管和多功能SOP自動化測試設計，使得RC2200具有更好的數(shù)據(jù)重現(xiàn)性、更佳的細顆粒粒徑和計數(shù)測試性能、可勝任更寬泛類別和更高要求的樣品測試，同時維護更簡便，壽命更長。全面滿足磨料、回注水、碳粉及氧化鋁等多行業(yè)的多樣化顆粒粒徑和計數(shù)的測試需求。

用途:

適合于測量粒度較均勻（即粒度分布范圍窄）的可分散于鹽水中的粉體樣品，也適用于測量水中稀少的固體顆粒的尺寸和個數(shù)。

工作原理:

采用小孔電阻原理，即庫爾特法測量顆粒的大小并計數(shù)。

將稀釋的顆粒懸浮液分散在電解質溶液中，通過攪拌形成均勻混合物，并使其通過絕緣壁（小孔管）上的一個小孔。在小孔兩側放置兩個電極并施加電流，當顆粒通過小孔時，通過阻抗的變化對其進行檢測。顆粒通過時產生的阻抗脈沖信號被放大并記錄。通過對脈沖的高度和形狀進行分析，獲得顆粒粒徑及顆粒計數(shù)數(shù)據(jù)。脈沖高度通常被認為與顆粒體積成正比。通過校準，這個尺度可轉換為體積等效球形直徑?；谥睆降男食?shù)可以通過下面公式計算：

式中  為粒徑校準常數(shù)。是出現(xiàn)頻度**的脈沖幅度。為有證粒度標準樣品的峰值粒徑。

任何顆粒的體積等效球直徑能通過下面公式計算：

式中 為任一顆粒產生的電脈沖幅度。 

原理性特點:

電阻法一直是測量顆粒粒度分布的常規(guī)方法之一。該方法測試結果不受顆粒形狀和密度的影響，適用于各種顆粒材料的粒度測定。由于該技術逐個測量每個顆粒的大小，然后再統(tǒng)計出粒度分布的，具有高分辨率和高準確性的優(yōu)勢，同時兼具顆粒計數(shù)功能。

該儀器特別適合測量的對象有：a. 對分辨率要求很高，或者對粒度分布寬度特別關注的粉體，例如磨料微粉、復印粉等。b. 液體中稀少的樣品顆?；蚰程囟P注粒徑范圍的稀少顆粒。c.貴重樣品;

主要技術指標:

1. 測試原理：小孔管電阻法（庫爾特法），符合國家標準GBT 29025-2012和 ISO 13319-1_2021

2. 測試范圍：0.6 - 256μm （取決于樣品，但在良好條件下，可以達到0.4 μm）

3. 進樣方式：電解液稀釋樣品，攪拌或靜置進樣

4. 進樣控制：定時間、定體積或定顆粒數(shù)

5. 重復性誤差：≤ 1%（標樣D50偏差）

6. 測試時間：15秒（典型值）

7. 檢測通道數(shù)：8192個

8. 信噪比：140dB

9. 單脈沖時延：5μs

10. 工作環(huán)境：溫度5 - 35 ℃，相對濕度≤ 85%

11. 輸出數(shù)據(jù)：粒度分布表、粒度分布曲線、平均粒徑、中值粒徑、標準偏差、變異系數(shù)、比表面積、顆粒個數(shù)、顆粒頻數(shù)等。

12. 電源：200-240V AC 50Hz

13. 外觀尺寸（W×D×H）： 主機外形尺寸：300×370×450 mm   

技術特點:

相對于RC2100型號，RC2200在硬件設計和軟件算法上均有升級，不僅拓寬測量和應用范圍，在測試性能上也獲得提升。

1. 升級的高信噪比芯片電路平臺

RC2200采用新版的數(shù)據(jù)采集芯片及控制電路系統(tǒng)，共模抑制比由RC2100的100dB提升至140dB，降低噪聲水平多達36%，大幅減小了系統(tǒng)噪聲對細顆粒測試的計數(shù)準確性和粒徑真實性的影響，提高了各孔管測試下限的性能。 

2. 升級的抗干擾性能

RC2200對關鍵的電極片傳感器新增一體式金屬電磁屏蔽裝置，顯著改善了復雜電磁環(huán)境對測試結果的干擾，保障了測試數(shù)據(jù)的真實性。 

3. 極端條件下的采樣性能提升 

檢測單脈沖時延從200μs減少至 5μs，可適用的樣品顆粒數(shù)量濃度范圍得以擴大。系統(tǒng)采用雙邊沿觸發(fā)電路設計，全程顆粒信號替代了半程顆粒信號被分析，計算脈沖寬度更精準，提高極端形貌的非球形顆粒粒徑測試準確性。增大的小孔管電流設計，結合上述改進一起使得細顆粒漏檢率大幅降低。

4. 多孔徑高性能小孔管可選

RC2200提供30、50、100、200、280、400μm等小孔管可選，滿足涵蓋亞微米至數(shù)百微米顆粒的測試需求。采用新設計的小孔管，減少了氣泡聚集的可能性，避免了對樣品流經小孔管流速的影響，提升了測試結果的一致性和準確性。新增30μm小孔管結合增大電流設計，使得RC2200可以測量細至0.6μm甚至更細的顆粒。 

5. 液壓排堵功能

液壓排堵采用泵入電解質儲液瓶中的介質進行排堵操作，比傳統(tǒng)方法排堵效率更高，且杜絕了在排堵過程中引入氣泡和氣泡卡澀在小孔附近對測試和數(shù)據(jù)的影響。 

6. 工裝定位的攪拌裝置

RC2200采用優(yōu)化的攪拌裝置定位及樣品杯托架設計，進一步提高了攪拌性能在維護前后及同型號儀器之間的一致性，少量離群大顆粒計數(shù)的準確性和重現(xiàn)性明顯改善。

7. 下限測試性能的提升

RC2200, 采用30um孔管測試0.6-1.5um 標準粒子

RC2200具備細至0.8um以下顆粒的準確粒徑測試性能及0.6um以下的顆粒計數(shù)性能，對于有細顆粒檢測需求的相關應用顯著地提升了下限的靈敏度和準確性。 

8. 自動化SOP測試，提升測試結果一致性

RC2200具有自動化SOP標準化測試性能，可以在SOP中配置攪拌方式、測試流程、測量時間等條件參數(shù)，并創(chuàng)新地開發(fā)了多功能聯(lián)用長SOP設計，減少人為操作的需要，提高了測試結果重現(xiàn)性。

9. 自定義報告參數(shù)及多種數(shù)據(jù)分類、篩選、排序、統(tǒng)計等分析功能

RC2200具備氧化鋁生產樣品顆粒分粒徑段計數(shù)、頻數(shù)及粒徑分布的專用行業(yè)報表，可快速指導生產調整，且可以Excel、Word等格式導出。

附件：RC2200測試報告