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2013年10月15-17日，第十一屆中國(guó)國(guó)際粉體加工/散料輸送展覽會(huì)在上海國(guó)際展覽中心成功舉辦，北京精微高博公司攜最新產(chǎn)品“高性能研究級(jí)雙站微孔分析儀JW-BK200C”亮相，向國(guó)內(nèi)外粉體界各大企業(yè)及高等院校、研究院所客戶展示了集國(guó)內(nèi)最高研究水平于一體的高端產(chǎn)品，代表了國(guó)產(chǎn)比表面及孔徑分析儀的發(fā)展方向。

北京精微高博公司展位


高性能研究級(jí)雙站微孔分析儀JW-BK200C

    同時(shí)，北京精微高博公司攜手丹東百特儀器公司，在中國(guó)顆粒學(xué)會(huì)的大力支持下，成功舉辦了“2013年顆粒測(cè)試與表征技術(shù)培訓(xùn)班”，我公司資深工程師向廣大客戶生動(dòng)的講述了“比表面及孔徑分析測(cè)試技術(shù)與維護(hù)”知識(shí)，深受客戶的好評(píng)。同時(shí)，公司董事長(zhǎng)鐘家湘教授向與會(huì)代表作了“比表面及孔徑分析儀的現(xiàn)狀與展望”的精彩報(bào)告。

“比表面及孔徑分析測(cè)試技術(shù)與維護(hù)”技術(shù)培訓(xùn)會(huì)