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美國麥克儀器公司和《顆粒學報》攜手助力顆粒學研究

美國麥克儀器公司和《顆粒學報》攜手助力顆粒學研究
美國麥克儀器  2012-06-12  |  閱讀:1567
         為鼓勵顆粒學科科研工作者做出更多的創(chuàng)新性成果,提高我國顆粒學學術水平,促進學科發(fā)展,美國麥克儀器公司和《顆粒學報》決定共同設立“麥克儀器優(yōu)秀論文獎”。

        美國麥克儀器公司成立于1962年,自公司成立以來一直致力于比表面積與孔隙度分析、壓汞分析技術、沉降式粒度表征、各種密度測試,化學吸附分析與微型催化反應研究眾多領域的科學研究,不僅為廣大科研學者提供先進的、精密的檢測儀器,還一直資助顆粒學科研究,包括資助科研課題、資助學者參加學術會議、設立論文獎項、贊助顆粒學術會議等多種形式,為顆粒粉體行業(yè)做出杰出貢獻。

 

該獎項的評選辦法如下:

獎勵范圍及標準

1. 本獎的評選范圍為:在顆粒表征、顆粒制備與處理、納米及超微顆粒、流態(tài)化與多相流、氣溶膠等領域的基礎研究或應用基礎研究工作中取得的成果,并在PARTICUOLOGY(顆粒學報)期刊上以論文形式正式發(fā)表的論文。.

2. 參與評選的論文為:各次評獎年前4年發(fā)表在《顆粒學報》上的所有文章,如2012年參與評選的是2008年第一期至2011年第6期發(fā)表的文章。

3. 本獎將以SCI數(shù)據(jù)庫為依據(jù),根據(jù)所有參選論文的被引用次數(shù)順序選出候選文章。

4. 本獎勵每兩年頒發(fā)一次,每次獎勵優(yōu)秀論文2篇,獎勵金額為每篇5000美元。本項獎勵通過通訊作者頒發(fā)給獲獎論文的研究團隊。

獎勵的評審與頒發(fā)

1. 獎項的評選工作由中國顆粒學會負責組織。

2. 《顆粒學報》編輯部根據(jù)所有參選論文在Web of Science數(shù)據(jù)庫中被引用次序的排序提出10篇候選文章,由該獎獨立的評審委員會評審并提出獲獎文章。

3. 評選結果經中國顆粒學會和麥克儀器公司確認后正式公布。

4. 獎勵的頒發(fā)儀式將在當屆的中國顆粒學會學術年會上舉行,屆時將頒發(fā)獎勵證書和獎金。

注:

本獎項自2012年正式啟動,獎勵周期為10年。

中國顆粒學會和麥克儀器公司保留該條例的最終解釋權。

可參考顆粒學會網站:;tag=5

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