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麥克默瑞提克(上海)儀器有限公司

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美國麥克儀器隆重推出NanoPlus納米粒度與Zeta電位分析儀

美國麥克儀器隆重推出NanoPlus納米粒度與Zeta電位分析儀
美國麥克儀器  2012-07-06  |  閱讀:1944
       NanoPlus是一款新型的、具有極寬測試范圍的多用途分析儀,它采用光子相關光譜法、電泳光散射以及最新的FST技術來分析納米粒度和zeta電位,并可測定固體以及高濃度懸浮液的zeta電位,符合數個ISO標準。該儀器采用了高靈敏度測量技術,可滿足濃度從0.1ppm到40%樣品的可粒度(從0.6nm到10mm)與zeta電位測量的要求。

 

產品應用:

 

半導體

研究半導體晶體表面殘留雜質與磨蝕劑、添加劑和晶片表面之間的相互影響的凈化機制。

 

醫(yī)藥和食品行業(yè)

乳劑的分散和凝聚的模擬控制研究(如食品、香水、藥品和化妝品),蛋白質功能研究,核糖體分散和凝聚控制研究,表面活性劑功能研究(微囊)。

 

陶瓷和顏料工業(yè)

表面重整控制研究、分散和凝聚陶瓷(矽土、氧化鋁、二氧化鈦等)和無機溶膠的研究,顏料的分散和凝聚的控制研究,浮礦收集器的吸附研究。

 

聚合物和化工領域

乳劑(涂料和粘合劑)的分散和凝聚控制研究,乳膠表面重整控制(藥品和工業(yè)用途)。電解聚合物(聚苯乙烯磺酸鈉、多羧酸等)功能研究,控制造紙和生產紙漿過程研究,紙漿添加劑研究。

 

如有需要,請隨時聯系我們:

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咨詢電話:400-630-2202

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