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利用 ZetaView? 和 F-NTA 四跨膜蛋白檢測(cè)試劑盒實(shí)現(xiàn)EV下游工藝的精準(zhǔn)質(zhì)量平衡分析

利用 ZetaView? 和 F-NTA 四跨膜蛋白檢測(cè)試劑盒實(shí)現(xiàn)EV下游工藝的精準(zhǔn)質(zhì)量平衡分析
DKSH  2025/08/22  |  閱讀:60
產(chǎn)品配置單:

型號(hào): ZetaView? Evolution

產(chǎn)地: 德國(guó)

品牌: 德國(guó)PMX公司

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方案詳情:

引言

在細(xì)胞外囊泡(EVs)下游工藝的顆粒定量監(jiān)測(cè)方面,行業(yè)長(zhǎng)期面臨諸多挑戰(zhàn)。這些挑戰(zhàn)往往源于剪切力對(duì)顆粒穩(wěn)定性的破壞、配方工藝尚未優(yōu)化,以及復(fù)雜培養(yǎng)基中聚集體的干擾。


本文采用Phoenestra的無(wú)血清、無(wú) hPL 的培養(yǎng)體系,結(jié)合溫和的純化工藝,有效規(guī)避了這些干擾因素,可以實(shí)現(xiàn) EV 顆粒質(zhì)量的精準(zhǔn)平衡評(píng)估,并計(jì)算來(lái)源于間充質(zhì)基質(zhì)細(xì)胞(MSC)的 EV 工藝產(chǎn)率;然后再借助Particle Metrix的納米顆粒跟蹤分析儀ZetaView與 F-NTA 四跨膜蛋白檢測(cè)試劑盒,可以成功實(shí)現(xiàn)在下游工藝過(guò)程中對(duì)四跨膜蛋白陽(yáng)性顆粒的靈敏檢測(cè)與動(dòng)態(tài)追蹤。


這一技術(shù)組合不僅提升了EV檢測(cè)的準(zhǔn)確性和特異性,更顯著提高了整個(gè)生產(chǎn)流程的可控性與標(biāo)準(zhǔn)化水平。


實(shí)驗(yàn)方法

MSC/TERT 細(xì)胞培養(yǎng)的上清液通過(guò) EVscale? 技術(shù)以灌流模式持續(xù)收集。收集到的溶液保存在 -80°C 條件下。


步:處理時(shí),先進(jìn)行一次溫和的深層過(guò)濾(截留孔徑為 2–4 μm)。為提高回收率,再使用緩沖液對(duì)濾膜進(jìn)行沖洗,最終獲得濃縮倍數(shù)(CF)為 0.8 的產(chǎn)物。

第二步:借用低剪切力的膜泵和截留分子量為 300 kDa 的中空纖維膜組件,進(jìn)行切向流過(guò)濾(TFF)純化。在此步驟中,樣品溶液被濃縮,并通過(guò)六個(gè)透析體積的緩沖液進(jìn)行溶液替換。最終,緩沖液更換率達(dá)到 98%以上,濃縮倍數(shù)為 3–4。

第三步:為進(jìn)一步提高顆粒濃度,再對(duì)樣品進(jìn)行超濾離心處理(截留分子量100 kDa),超濾后的濃縮倍數(shù)約為 50。

第四步:再通過(guò)離心的方法去除純化過(guò)程中形成的聚集體和沉淀物,把樣品等量分裝。


在以上每一個(gè)純化步驟前、后均采集樣品,并通過(guò)納米顆粒跟蹤分析儀ZetaView(Particle Metrix)進(jìn)行檢測(cè)。其中,散射光模式(NTA)用于測(cè)定總顆粒數(shù),而結(jié)合了四跨膜蛋白檢測(cè)試劑盒的熒光模式(F-NTA),用于定量測(cè)定表達(dá)了CD9、CD63 和 CD81 的細(xì)胞外囊泡。


圖片


圖1:NTA 測(cè)量與工藝產(chǎn)率:完成并分析來(lái)自不同原材料(不同細(xì)胞來(lái)源,不同培養(yǎng)條件)的兩條獨(dú)立下游工藝。各工藝單元顆粒回收率如下:深層過(guò)濾,約 90%;切向流過(guò)濾(TFF),約 80%;最終濃縮:65–85%。最終整體工藝的綜合產(chǎn)率為 50–60%。


圖片


圖2:F-NTA測(cè)量—四跨膜蛋白陽(yáng)性顆粒濃度:展示了在整個(gè)下游處理過(guò)程中,四跨膜蛋白陽(yáng)性顆粒的逐步富集情況。


圖片

圖3:四跨膜蛋白陽(yáng)性顆粒(F-NTA)在總顆粒(NTA)中的比例:展示了在下游純化工藝過(guò)程中,四跨膜蛋白陽(yáng)性顆粒(即 EV)在總顆粒中的占比逐步上升的過(guò)程,這也說(shuō)明了非 EV 顆粒在該純化工藝中已被有效去除。


總結(jié)

? 在本文中,使用無(wú)血清和無(wú) hPL 的培養(yǎng)基,結(jié)合溫和的純化工藝,納米顆粒跟蹤分析儀ZetaView(NTA)可作為可靠的顆粒質(zhì)量平衡分析工具。


? 借助四跨膜蛋白檢測(cè)試劑盒進(jìn)行NTA技術(shù)的熒光標(biāo)記檢測(cè)(F-NTA),可以有效驗(yàn)證 EV 富集方法的特異性,確保所獲得的顆粒確實(shí)為EV顆粒。



參考文獻(xiàn):

Melanie Reininger*, Claudia Lindner*, Dr. Ingrid Hartl*, Dr. Christina Klasen**,

Dr. Roland Prielhofer* and Dr. Klaus Graumann*

*Phoenestra GmbH

**Particle Metrix GmbH


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