誤差率：
-分辨率：
-重現(xiàn)性：
-儀器原理：
其他分散方式：
-測量時間：
-測量范圍：
10μm-5cm看了“銳”系列粒度粒形儀R-2000的用戶又看了
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形態(tài)成像技術正迅速成為粒子表征的實驗室工具箱中必不可少的技術。提供自動化、快速的顆粒形態(tài)學信息，用于解決配方難題，優(yōu)化材料性能，監(jiān)控材料顆粒大小穩(wěn)定性貫穿整個開發(fā)和制造過程。這些系統(tǒng)為過程控制和化和提供快速識別工藝偏差的手段。
分散 | 采用靜態(tài)圖像法進行測試，集成真空分散器，超大分散面，微米級分散，測試樣本量大。 |
完善 | MIP 軟件可提供箱形圖，散點圖等統(tǒng)計工具，可對同類型參數(shù)進行橫向對比，亦可對不同類型參數(shù)進行關聯(lián)分析。 |
真實 | 每個粒子的單個二維圖像與整個樣本的大小和形狀分布一起顯示。這為結果提供了強大的視覺證明，并可以確認和量化樣品分散中存在的聚集體或不需要的粒子。 |
快速 | 自動成像量成干上萬個粒子的時間比人工顯微鏡量少量粒子的時間要短，這使得測量在統(tǒng)計學上更加可靠。粒子圖像被自動、客觀地捕獲、測量、分析和分類，**限度地減少操作者的主觀性。 |
精準 | 由于對每個顆粒進行統(tǒng)計分析，故能夠精確檢出含量極少的“過大顆粒以及較小”顆粒，并可提供數(shù)量及體積作為加權因子，使得測試更加科學。 |
高效 | MIP 軟件架構不僅可以實時進行數(shù)據(jù)評估，而且可以在顆粒圖庫中存儲大量的顆粒圖像，帶有不同顆粒特征信息的顆粒圖片可以從顆粒圖庫中提取出來離線顯示和分類統(tǒng)計。 |
磨料、化工、地質、鋰電、金屬、纖維等顆粒展示：
與傳統(tǒng)方法對比
| 性能特點 | R-2000 | 篩分儀 | 激光粒度儀 | 光學顯微鏡 |
|---|---|---|---|---|
| 寬泛的動態(tài)測量范圍 | ++ | + | ++ | - |
| 重現(xiàn)性 | ++ | + | ++ | - |
| 窄分布測量和高分辨率 | ++ | - | + | ++ |
| 顆粒形態(tài)分析 | ++ | - | - | ++ |
| 分析結果可比性 | ++ | - | + | ++ |
| 大顆粒檢測能力 | ++ | ++ | - | + |
| 校正和檢驗 | ++ | ++ | + | + |
| 操作及維護 | ++ | ++ | ++ | - |
| 統(tǒng)計功能 | ++ | + | - | - |
技術參數(shù)
| 技術 | 靜態(tài)自動成像分析 |
| 測試范圍 | 10μm-5cm |
| 執(zhí)行標準 | ISO-13322-1 |
| 光源類型 | 背向藍色光源（465納米）/前向白色光源 |
| 成像系統(tǒng) | 帶有微透鏡的線陣CCD |
| 成像分辨率 | **50000*50000（6400dpi）* |
| 粒度參數(shù) | 周長、凸包周長、面積、等效面積直徑、等效表面積直徑、等效周長直徑、**內切圓直徑、內徑、費雷特**直徑、費雷特*小直徑、勒讓德長徑、勒讓德短徑、測地線長度、*小外接圓直徑、平均直徑、骨架長度 |
| 粒形參數(shù) | 球形度、橢圓比、延伸率、直線度、卷曲度、不規(guī)則度、密實度、圓形度、伸展度、圓度、堅固性、凹度、凸度、高寬比、鈍度、衛(wèi)星化指數(shù)、平均灰度 |
| 數(shù)據(jù)格式 | Excel、bitmap、PDF |
| 可選附件 | 真空分散器 |
| 樣品回收 | 100%回收 |
| 尺寸與重量 | 尺寸：（L*W*H）900*450*297mm；重量：20.5kg |
| 工作環(huán)境 | 溫度：5℃-40℃；濕度：35-80% |
| 電源 | 110-240V 50/60Hz |
注：*拍攝視野為20*20cm時
暫無數(shù)據(jù)！
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