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布魯克Hysitron PI 85L是SEM專用的多用途、高靈敏度熱學、電學和力學的測試系統(tǒng)，利用SEM的高分辨率，可以直接觀測整個材料動態(tài)變化的過程。傳統(tǒng)納米壓痕儀通過光學顯微鏡或原位掃描只能觀察到壓痕前及壓痕后的形貌變化，中間過程無法觀察到，載荷位移曲線上的一些突變我們無法解釋，甚至單從曲線分析會導致錯誤的解釋。

PI 85L安裝于電鏡，可以精確施加載荷，檢測位移，在電鏡下做壓痕、拉伸、彎曲、壓縮、加熱、電學和劃痕測試，可以借助電鏡的高分辨率，觀測并記錄整個材料測試過程，觀測材料在力下發(fā)生的動態(tài)變化，如金屬蠕變、相變、斷裂起始等。

PI 85L采用Hysitron**技術三板電容傳感器，具備載荷和位移同時監(jiān)測和驅動的獨特功能。具備業(yè)界**的精度，重復性和低背景噪音等優(yōu)點。PI 85L擁有多種特色測試功能模塊可供選擇，如動態(tài)力學測試、MEMS加熱、拉伸測試、電學測試、納米劃痕等功能模塊。