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美國(guó)Anasys公司的AFM+可以提供全面的原子力顯微功能，具有強(qiáng)大的分析能力，使得AFM不僅僅是一個(gè)普通的成像工具，還可以進(jìn)行材料納米級(jí)尺度的成分分析，熱性能和機(jī)械性能的分析。
AFM+的主要特點(diǎn)：
簡(jiǎn)潔的安裝與操作
□ AFM+為*便利的使用而設(shè)計(jì)制造。探針預(yù)裝在金屬圓片上，確保探針位置的準(zhǔn)確性和裝針的便捷
□ 儀器集幾十年AFM設(shè)計(jì)大師的經(jīng)驗(yàn)之大成，即使初次使用也能快速獲取結(jié)果
完整的AFM工作模式
□ 包含所有常規(guī)成像模式：接觸、輕敲、相位、側(cè)向力、力調(diào)制、力曲線(xiàn)
□ 獨(dú)有高分辨率低噪音的閉環(huán)成像
□ 基于DI傳承的多功能AFM，實(shí)現(xiàn)納米熱學(xué)，力學(xué)，電學(xué)和磁學(xué)測(cè)量：
l納米熱分析模塊（nanoTA， SThM）
l洛侖茲接觸共振模塊（LCR）
l導(dǎo)電原子力顯微鏡鏡（CAFM）
l開(kāi)爾文電勢(shì)顯微鏡（KPFM）
l磁力顯微鏡（MFM）
l靜電力顯微鏡（EFM）
獨(dú)有的可升級(jí)功能
□ 熱學(xué)性能：獨(dú)有的熱探針技術(shù)，提供納米級(jí)紅外分析
□ 機(jī)械性能：洛倫茲接觸共振模式能夠提供寬頻納米機(jī)械分析
□ 化學(xué)性能：可升級(jí)具有納米紅外光譜技術(shù)，實(shí)現(xiàn)局部化學(xué)組分分析
□ 近場(chǎng)成像：可升級(jí)具有散射式近場(chǎng)光學(xué)成像和光譜采集功能
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