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飛納電鏡推出的 ChemiSEM 技術(shù),將 SEM 形貌觀察與 EDS 成分分析相結(jié)合,讓工作流程更加流暢,簡(jiǎn)化了許多材料(包括金屬、陶瓷、電池、涂層、水泥和軟物質(zhì)材料等)的分析流程:通過彩色元素分布圖與 SEM 圖像的實(shí)時(shí)疊加,在成像同時(shí)提供高質(zhì)量的成分定性定量信息。
實(shí)時(shí)分析獲取更深層的信息 所有的 SEM-EDS 分析本質(zhì)上都是復(fù)雜的,對(duì)于產(chǎn)品故障分析和污染物識(shí)別等應(yīng)用,研發(fā) 需要不斷改進(jìn)質(zhì)量控制(QC)和故障分析(FA)流程,以更好地解決出現(xiàn)的問題。 ChemiSEM 技術(shù)的實(shí)時(shí)分析在質(zhì)量控制和生產(chǎn)效率提升方面提供了獨(dú)特的優(yōu)勢(shì)。它的 EDS 集成在儀器中,并在電鏡工作時(shí)始終在后臺(tái)收集成分?jǐn)?shù)據(jù),逐步建立樣品更全面和詳 細(xì)的信息,幫助您更快地定位到關(guān)鍵質(zhì)量問題。實(shí)時(shí)定量面掃:不再有

實(shí)時(shí)定量面掃:不再有分析干擾 傳統(tǒng)的元素分析中,復(fù)雜樣品元素分布和相分布面掃并不能及時(shí)得到精確的結(jié)果。例 如,一個(gè)峰的信號(hào)有時(shí)會(huì)被識(shí)別為兩個(gè)元素,產(chǎn)生錯(cuò)誤,干擾樣品QC 問題的判斷。 憑借創(chuàng)新的算法和智能光譜擬合,ChemiSEM 技術(shù)可以幫助您的實(shí)驗(yàn)室團(tuán)隊(duì)實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確的 元素識(shí)別和量化—— 即使在處理多個(gè)重疊元素時(shí)也是如此。

ChemiSEM 定量面掃:ChemiSEM 技術(shù)自動(dòng)處理原始信號(hào),生成定量面掃結(jié)果。數(shù)據(jù)被很好地解析,能夠有效避免和 峰和重疊峰的影響。并且使用算法同時(shí)處理 BSE(背散射電子)和 EDS 信號(hào),從而可以實(shí)時(shí)顯示樣品的形態(tài)和 元素定量結(jié)果。
無(wú)偏差相分析 傳統(tǒng)的相分析高度依賴于對(duì)樣品的假設(shè),當(dāng)存在譜峰重疊或強(qiáng)度不足而遺漏了元素時(shí), 這可能會(huì)是一個(gè)問題。 有了 ChemiPhase(ChemiSEM 技術(shù)中的一項(xiàng)新功能)后,可以避免這種情況。復(fù)雜樣 品的分析能夠做到完全無(wú)偏差,可以基于數(shù)據(jù)單元中所有光譜結(jié)果,系統(tǒng)地識(shí)別每個(gè)獨(dú) 立的相。隨后,數(shù)據(jù)分析可以在沒有任何元素預(yù)定義的情況下自動(dòng)運(yùn)行,無(wú)需豐富經(jīng)驗(yàn) 即可定位次要/微量元素,明確識(shí)別主要和次要成分,完成更深入、更全面的分析。
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使用 ChemiPhase 對(duì)地質(zhì)切片的分析,每個(gè)相的能譜成分被自動(dòng)提取和計(jì)算,可以將不同礦物相有效區(qū)分。
自動(dòng)樣品漂移校正 成分分析過程中,準(zhǔn)確和有效的定量結(jié)果需要一個(gè)正確且穩(wěn)定的樣品位置信息。 通常在圖像漂移的情況下,研究人員需要多次重新獲取分析數(shù)據(jù),或者等待樣品停止漂 移后再獲取數(shù)據(jù),這兩種方式都會(huì)降低測(cè)試效率。 通過不斷監(jiān)控樣品位置,ChemiSEM 軟件提供自動(dòng)樣品漂移校正,使高倍率操作和較長(zhǎng) 時(shí)間的能譜采集成為可能。幫助大家節(jié)省寶貴的時(shí)間和精力,專注于更重要的事情:盡 快獲取**質(zhì)量的數(shù)據(jù)。
暫無(wú)數(shù)據(jù)!
 
今年 11 月 2 日起,每日早七點(diǎn)至晚八點(diǎn),包括延安高架、南北高架在內(nèi)的多條道路禁止“外牌”、“臨牌”小客車、未載客的出租車等通行。因?yàn)樾履茉雌囓嚺戚^容易獲得,不少人轉(zhuǎn)投新能源汽車,因此帶動(dòng)了新能
2020-12-21
 
隨著鋼鐵行業(yè)進(jìn)入微利時(shí)代,生產(chǎn)具有更高附加值的高品質(zhì)潔凈鋼也成為鋼鐵企業(yè)自身發(fā)展的需求。因此,潔凈鋼技術(shù)研究及其生產(chǎn)工藝控制技術(shù)目前已是各鋼鐵企業(yè)的重要課題。生產(chǎn)潔凈鋼的關(guān)鍵在于減少鋼中的雜質(zhì),而控制
2020-12-21
2020-12-21
 
							INVITATION 第二屆人工智能傳感器與換能器國(guó)際會(huì)議將于 7 月 29 日- 8 月 3 日在馬來西亞吉隆坡舉辦。我們誠(chéng)摯邀請(qǐng)您參加并蒞臨我們的【2】號(hào)展位,與技術(shù)銷售工程師 Vinc
 
							近日,揚(yáng)州小天光子科技有限公司(以下簡(jiǎn)稱“小天光子”)成功引入桌面掃描電鏡領(lǐng)導(dǎo)者---飛納電鏡旗下的旗艦設(shè)備 Phenom ProX G6 掃描電鏡能譜一體機(jī),并順利完成了安裝與驗(yàn)收,正式投
 
							汽車清潔度管控 Phenom Scientific 清潔度一般指汽車零件、總成及整機(jī)等部位被顆粒物污染的程度,用規(guī)定的方法從特定的部件采集到顆粒物的質(zhì)量、大小、形狀、
 
							摘要:隨著汽車工業(yè)對(duì)質(zhì)量與可靠性的要求日益提升,汽車清潔度檢測(cè)已成為保障關(guān)鍵零部件穩(wěn)定運(yùn)行的核心環(huán)節(jié)。傳統(tǒng)方法難以滿足對(duì)微小顆粒的識(shí)別需求,因此,先進(jìn)的掃描電鏡(SEM)技術(shù)正被廣泛應(yīng)用于清潔度分析領(lǐng)
 
							掃描電鏡(SEM, Scanning Electron Microscope)作為半導(dǎo)體行業(yè)中不可或缺的高精度檢測(cè)工具,憑借其納米級(jí)分辨率和強(qiáng)大的表征能力,已廣泛應(yīng)用于芯片制造、材料開發(fā)、失效分析、工
 
							掃描電子顯微鏡樣品制備全攻略:從原理到實(shí)踐掃描電子顯微鏡(SEM)是研究材料微觀結(jié)構(gòu)的重要工具,廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、半導(dǎo)體、生物醫(yī)學(xué)、地質(zhì)等領(lǐng)域。經(jīng)過半個(gè)多世紀(jì)的發(fā)展,現(xiàn)代掃描電鏡不僅具備高分辨率形貌
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