XRD(X 射線衍射)高通量測(cè)試是一種能在短時(shí)間內(nèi)對(duì)大量樣品進(jìn)行快速分析的技術(shù),其發(fā)展與應(yīng)用主要源于傳統(tǒng) XRD 測(cè)試在面對(duì)復(fù)雜樣品體系和大規(guī)模分析需求時(shí)的局限性。馬爾文帕納科最新推出了Aeris高容量樣品進(jìn)樣器,突破小型化[更多]
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