中國粉體網(wǎng)訊 納米材料是三維空間中至少有一維處于納米尺度范圍或者由該尺度范圍的物質(zhì)為基本結(jié)構(gòu)所構(gòu)成的材料的總稱。過去30年來，納米技術(shù)和納米材料已經(jīng)徹底改變了化學(xué)領(lǐng)域�！凹{米演化”開始能夠在原子尺寸上表征材料，隨著研究的深入，科學(xué)家們發(fā)現(xiàn)在納米尺度下觀察物質(zhì)的能力也可以用來操縱物質(zhì)，繼而把納米材料的研究范圍擴(kuò)展到研究納米材料的組成、尺寸、形狀和形態(tài)等各方面。納米材料在許多領(lǐng)域?yàn)槿祟愄峁┝司薮蟮母＠�，如在能源存儲、催化作用、光伏能源轉(zhuǎn)換，環(huán)境修復(fù)和農(nóng)業(yè)等。隨著納米材料越來越多地融入到商業(yè)流程和消費(fèi)產(chǎn)品中，這些材料如何與環(huán)境相互作用將成為至關(guān)重要的研究內(nèi)容。
（a）納米材料與人類（b）納米顆粒與生物細(xì)胞初始相互作用的一些可能途徑
食源性致病菌是引起食品安全問題的一個重要因素，如何更好地抑制食源性致病菌、保障食品安全，是食品領(lǐng)域主要的研究方向之一。目前，控制食品中食源性致病菌的方法有高溫滅菌、提高滲透壓、添加抗菌劑以及采用真空包裝等，其中添加抗菌劑是食品生產(chǎn)中一種常用手段�？捎糜谑称返目咕鷦┯屑句@鹽類、醇類、酚類等有機(jī)抗菌劑以及含有金屬離子化合物的無機(jī)抗菌劑。由于無機(jī)抗菌劑的抗菌譜廣且性能穩(wěn)定，因此，食品生產(chǎn)者對利用無機(jī)抗菌劑抑制微生物產(chǎn)生了很大的興趣。由于納米金屬氧化物具有良好的抗菌性和化學(xué)穩(wěn)定性，其在食品領(lǐng)域的應(yīng)用引起了越來越多研究者的關(guān)注。
BeNano 系列納米粒度電位儀
BeNano 系列納米粒度電位儀是丹東百特儀器有限公司全新開發(fā)的測量納米顆粒粒度和Zeta電位的光學(xué)檢測系統(tǒng)。該系統(tǒng)中集成了動態(tài)光散射DLS、電泳光散射ELS和靜態(tài)光散射技術(shù)SLS，可以準(zhǔn)確的檢測顆粒的粒徑及粒徑分布，Zeta電位，高分子和蛋白體系的分子量信息等等參數(shù)，可廣泛的應(yīng)用于化學(xué)、化工、生物、制藥、食品、材料等領(lǐng)域的基礎(chǔ)研究和質(zhì)量分析質(zhì)量控制用途。
BeNano系列納米粒度及Zeta電位分析儀
型號 粒徑 電位 分子量
BeNano 90 √ - √
BeNano Zeta - √ -
BeNano90 Zeta √ √ √
BeNano系列納米粒度及Zeta電位分析儀
一機(jī)整合三大檢測技術(shù)
動態(tài)光散射DLS技術(shù)
由于顆粒布朗運(yùn)動而產(chǎn)生的散射光的波動隨時間的變化。其中小顆粒造成的散射光波動速度較快，大顆粒造成的散射光信號波動較慢。APD檢測器將散射光信號轉(zhuǎn)化為電信號，再通過數(shù)字相關(guān)器的運(yùn)算處理，得到顆粒在溶液中擴(kuò)散的速度信息，即擴(kuò)散系數(shù)D。通過Stockes-Einstein方程可以得到顆粒、大分子的尺寸，即流體力學(xué)直徑DH及其分布。
突出特點(diǎn)
￭高速測試能力
更快的測試速度，所有結(jié)果可以隨后編輯處理
￭高性能固體激光器光源
高功率、極佳的穩(wěn)定性、長壽命、低維護(hù)
￭智能光源能量調(diào)節(jié)
根據(jù)信噪比，軟件智能控制光源能量
￭光纖檢測系統(tǒng)
高靈敏度，有效增加信噪比
￭毛細(xì)管極微量粒徑池
3-5μL極微量樣品檢測和更好的大顆粒測試質(zhì)量
￭智能結(jié)果判斷系統(tǒng)
智能辨別信號質(zhì)量，消除隨機(jī)事件影響
電泳光散射ELS
將分散在分散液體中的顆粒往往在表面攜帶一定量電荷，這些電荷會使顆粒在溶液中形成一個超過顆粒表面界限的雙電層。在顆粒的滑移層的位置的電勢值稱作ZETA電位。顆粒的Zeta電位與顆粒之間的相互作用力息息相關(guān)，較高的Zeta電位有利于防止顆粒團(tuán)聚，維持體系的穩(wěn)定性。
電泳光散射ELS技術(shù)是一種光學(xué)的測試技術(shù)，通過檢測顆粒電泳運(yùn)動產(chǎn)生的散射光的多普勒頻移，進(jìn)而分析原始的光學(xué)信號得到顆粒的電泳速度信息，由亨利方程建立的顆粒電泳速度和Zeta電位的關(guān)系最終得到顆粒在當(dāng)前體系中ZETA電位ζ和ZETA電位分布信息。
突出特點(diǎn)
￭相位分析光散射
準(zhǔn)確檢測低電泳遷移率樣品的Zeta電位
￭可拋棄毛細(xì)管電極
極佳的Zeta電位測試重復(fù)性，避免交叉污染
￭高穩(wěn)定性設(shè)計
結(jié)果重復(fù)性極佳，不需日常光路維護(hù)
￭靈活的動態(tài)技術(shù)模式
多種計算模型選擇涵蓋科研和應(yīng)用領(lǐng)域
靜態(tài)光散射SLS
靜態(tài)光散射SLS技術(shù)能夠檢測顆粒、大分子物質(zhì)的平均散射光強(qiáng)，通過瑞利散射方程將散射光強(qiáng)與大分子物質(zhì)的絕對分子質(zhì)量和第二維利系數(shù)A2等信息聯(lián)系起來。
其中c為樣品的濃度，θ為測量的角度（散射角），Rθ 為θ角方向的瑞利散射比，Mw 為重均分子量，A2 為第二維利系數(shù)，K為與（dn/dc）2相關(guān)的常數(shù)。
突出特點(diǎn)
￭高速測試能力
更快的測試速度，所有結(jié)果可以隨后編輯處理
￭高性能固體激光器光源
高功率、極佳的穩(wěn)定性、長壽命、低維護(hù)
￭智能光源能量調(diào)節(jié)
根據(jù)信噪比，軟件智能控制光源能量
￭光纖檢測系統(tǒng)
高靈敏度，有效增加信噪比
￭毛細(xì)管極微量粒徑池
3-5μL極微量樣品檢測和更好的大顆粒測試質(zhì)量
￭智能結(jié)果判斷系統(tǒng)
智能辨別信號質(zhì)量、消除隨機(jī)事件影響
良好的重復(fù)性
顆粒測試
Zeta電位測試
良好的準(zhǔn)確性
（中國粉體網(wǎng)編輯整理/茜茜）
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