
弗爾德(上海)儀器設(shè)備有限公司

已認(rèn)證
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在電子領(lǐng)域,金相分析更為常見的名稱為“切片”(Cross-sectioning),是揭示選定截面微觀結(jié)構(gòu)的一種分析手段,廣泛被用于來料檢測、工藝質(zhì)量控制、研發(fā)結(jié)構(gòu)分析以及失效分析。在一系列無損測試后,金相切片通常作為終極分析方法給出最為直觀的結(jié)果。
相對于傳統(tǒng)的金相應(yīng)用,電子樣品制備是一個更新、更為特殊和復(fù)雜的應(yīng)用領(lǐng)域。其主要挑戰(zhàn)包括:
電子樣品中涉及的材料類型極其廣泛,且通常在一個目標(biāo)區(qū)域中即可涉及多種機械性能迥異的材料。以芯片封裝為例,若切片目標(biāo)位置是引線鍵合處,則該截面也可能包含易碎的硅晶片、高硬度的氧化鋁陶瓷基板、較軟的銀導(dǎo)電膠、錫基焊球及聚合物封裝、玻璃纖維板等其它材料。
當(dāng)含多種異質(zhì)材料組合的樣品進行磨拋時,不恰當(dāng)?shù)哪佋O(shè)備、制備參數(shù)和耗材選擇均有可能帶來平整度不高、劃痕、碎裂、嵌入等制樣問題或假象,導(dǎo)致無法獲得真實、完美的制備效果。
電子制樣的目標(biāo)位置常常集中于某些特定或指定的區(qū)域,即具有位置敏感性,通常稱為目標(biāo)制備。與此同時,現(xiàn)代電子工業(yè)微型化和便攜性的發(fā)展趨勢使元器件尺寸越做越小,相應(yīng)的金相分析目標(biāo)也隨之變小,給目標(biāo)制備的精度提出了更高的要求。
實踐中,為實現(xiàn)精準(zhǔn)的小尺寸目標(biāo)制備,操作者一般需要邊研磨邊觀察,逐漸接近目標(biāo)位置。即便如此,也常常會面臨錯過目標(biāo)區(qū)域,失去樣品制備意義的風(fēng)險。
上述兩個因素使得電子行業(yè)長久以來更為依賴手動磨拋,一直都比較排斥現(xiàn)代金相制備中越來越廣泛應(yīng)用的半自動磨拋,與效率更高的全自動磨拋解決方案之間的距離更是遙不可及。
因此,目前電子行業(yè)很多質(zhì)控實驗仍會配置大量操作人員,進行繁瑣的手動金相切片,與其擁有的現(xiàn)代化生產(chǎn)線成了強烈的反差,當(dāng)然也談不上制樣的重復(fù)性和效率。
QATM Qpol 250 BOT
全自動磨拋系統(tǒng)
助力電子樣品
全自動目標(biāo)制備
Qpol 250 BOT緊湊型全自動磨拋系統(tǒng)是德國制造和工業(yè)4.0的智慧結(jié)晶,以其操作便利性和可靠性而備受鋼鐵、汽車、航空航天等制造業(yè)客戶的推崇。經(jīng)過QATM應(yīng)用工程師和電子行業(yè)用戶的共同開發(fā)和努力,該設(shè)備在電子樣品的高效、高重復(fù)性目標(biāo)制備應(yīng)用中也開始展露鋒芒。
如下,常見的電子切片目標(biāo)制備樣品,如IC封裝、引線鍵合、片式電容電阻、連接器、引腳鍍層、BGA焊點、波峰焊焊點、PCB基板及盲孔等,現(xiàn)在都可以嘗試告別繁瑣的手動制備,體驗由Qpol 250 BOT全自動磨拋系統(tǒng)帶來的驚喜制備效果啦。
如果您的日常工作中也需要對批量化電子樣品進行定量磨削和目標(biāo)制備,歡迎聯(lián)系我們,一起體驗研磨、拋光和清潔過程完全自動化的先進制樣流程,并獲得滿足您樣品需求的定制化磨拋耗材及試樣夾具解決方案。
弗爾德(上海)儀器設(shè)備有限公司隸屬全球技術(shù)領(lǐng)先者-弗爾德集團旗下,提供最先進的樣品處理與分析設(shè)備及解決方案。
旗下六大品牌:德國Retsch(萊馳)粉碎、研磨、篩分設(shè)備,德國Microtrac MRB(麥奇克萊馳)多功能粒度粒形分析儀,Carbolite?Gero(卡博萊特?蓋羅)烘箱、高溫烘箱、箱式馬弗爐、灰化爐、管式馬弗爐、氣氛馬弗爐、真空馬弗爐、高溫馬弗爐及工業(yè)定制爐,Eltra(埃爾特)碳/氫/氧/氮/硫元素分析儀,QATM(奧德鎂)切割機、鑲嵌機、磨拋機、硬度計,Erweka (艾維卡) 藥品藥劑測試設(shè)備。
服務(wù)于全球無數(shù)實驗室、制造商和科研機構(gòu),是客戶最忠實的合作伙伴。弗爾德致力于和客戶共同進步成長,為客戶提供有效可靠的產(chǎn)品、流程和工藝方法,使其能夠更安全、更高效、更持久地發(fā)展業(yè)務(wù)。我們希望通過不懈努力,不斷推動技術(shù)進步,使世界變得更加健康和安全。
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