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一圖讀懂!與您相約“顆粒、粉體、膜(P3)分析與表征技術(shù)研討會”

一圖讀懂!與您相約“顆粒、粉體、膜(P3)分析與表征技術(shù)研討會”
美國麥克儀器  2019-08-12  |  閱讀:2180


材料表征領(lǐng)域的領(lǐng)導(dǎo)者Micromeritics麥克儀器公司將舉辦《顆粒、粉體、膜(P3)的分析與表征技術(shù)研討會》,分享國際領(lǐng)先的材料表征技術(shù)及實際應(yīng)用,為用戶的材料分析與表征提供完整性解決方案。誠摯邀請您出席本次研討會!

時間:2019年9月19日全天

地點:上海大華錦繡假日酒店

費用:免費

內(nèi)容:

顆粒、粉體、膜的特性與綜述;

顆粒粒度分析:電阻法,X沉降法與亞篩分法

顆粒形態(tài)分析:動態(tài)圖像法

顆粒粉體分析的樣品制備:取樣,縮樣與分散

孔徑分析:氣液與液液孔徑分析方法

粉體流動性分析

咨詢電話:021-51085884-807

報名網(wǎng)址:


研討會主要主講人:



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