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復(fù)納科學(xué)儀器(上海)有限公司

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網(wǎng)絡(luò)研討會(huì)|半導(dǎo)體封裝檢測(cè)及失效分析高效制樣方法

網(wǎng)絡(luò)研討會(huì)|半導(dǎo)體封裝檢測(cè)及失效分析高效制樣方法
復(fù)納科技  2025-04-17  |  閱讀:181


在數(shù)字化浪潮席卷全球的今天,半導(dǎo)體作為信息技術(shù)的核心支撐,其產(chǎn)業(yè)發(fā)展態(tài)勢(shì)迅猛。隨著 5G、人工智能、大數(shù)據(jù)等新興技術(shù)不斷突破,對(duì)半導(dǎo)體性能的要求也達(dá)到了前所未有的高度。半導(dǎo)體封裝檢測(cè)及失效分析作為半導(dǎo)體制造流程中的關(guān)鍵環(huán)節(jié),直接決定了產(chǎn)品的質(zhì)量與穩(wěn)定性。近年來(lái),倒裝芯片、晶圓級(jí)封裝等先進(jìn)封裝技術(shù)快速發(fā)展,帶來(lái)了更高的集成度和更優(yōu)越的性能表現(xiàn),但同時(shí)也對(duì)封裝檢測(cè)提出了全新的挑戰(zhàn)。 

 

半導(dǎo)體封裝檢測(cè)及失效分析高效制樣方法

 

為深度把握半導(dǎo)體先進(jìn)封裝與失效分析技術(shù)前沿動(dòng)態(tài),儀器信息網(wǎng)定于 2025 年 4 月 22 日至 23 日舉辦第四屆半導(dǎo)體封裝檢測(cè)及失效分析技術(shù)進(jìn)展網(wǎng)絡(luò)研討會(huì)。

本次研討會(huì)云集企業(yè)代表、技術(shù)精英及權(quán)威專家,圍繞先進(jìn)封裝檢測(cè)技術(shù)的最新進(jìn)展、掃描電鏡、聚焦離子束(FIB)等精密儀器在芯片失效分析中的創(chuàng)新應(yīng)用等熱門方向,通過(guò)主題報(bào)告、在線互動(dòng)等多元形式,構(gòu)建覆蓋"技術(shù)研發(fā)-工藝優(yōu)化-設(shè)備應(yīng)用"全鏈條的對(duì)話平臺(tái),共同推動(dòng)半導(dǎo)體封裝檢測(cè)及失效分析技術(shù)的創(chuàng)新與發(fā)展,助力行業(yè)邁向新的高度。

 

·復(fù)納科技報(bào)告·

 

失效分析對(duì)于糾正設(shè)計(jì)和研發(fā)錯(cuò)誤、完善產(chǎn)品、提高產(chǎn)品良品率和可靠性有重要意義,復(fù)納科技可以提供簡(jiǎn)單、時(shí)效、精確的電子半導(dǎo)體材料檢測(cè)方案,對(duì)于失效模式的確定有極大的幫助。

復(fù)納科學(xué)儀器(上海)有限公司產(chǎn)品應(yīng)用總監(jiān)朱俊文將帶來(lái)主題【半導(dǎo)體封裝檢測(cè)及失效分析高效制樣方法(桌面型場(chǎng)發(fā)射電鏡搭配離子研磨案例分享)】,報(bào)告時(shí)間為 4 月 22 日 10:00-10:30,歡迎報(bào)名預(yù)約觀看。

 

 

桌面型場(chǎng)發(fā)射電鏡搭配離子研磨

 

離子研磨儀

氬離子拋光制樣,使用飛納臺(tái)式掃描電鏡觀測(cè)1

氬離子拋光制樣,使用飛納臺(tái)式掃描電鏡觀測(cè)2

焊點(diǎn)失效分析案例(氬離子拋光制樣,使用飛納電鏡觀測(cè))

 

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