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Phenom Ar-C 手套箱版掃描電鏡
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在手套箱內(nèi)進行空氣敏感材料的制備和分析

Phenom Argon-Compatible Desktop SEM(以下簡稱:Phenom Ar-C)是**一款可以放在氬氣手套箱中安裝并運行的掃描電   鏡,可以在手套箱內(nèi)進行更安全的樣品制備、顯微觀察和能譜分析。無需將樣品從一臺儀器轉(zhuǎn)移到另一臺儀器,實現(xiàn)了直接對空氣敏感 樣品的研究,節(jié)省了時間和資源。

傳統(tǒng)方法與 Phenom 手套箱版臺式掃描電鏡對比
    
Phenom Ar-C,標配四分割背散射電子檢測器(BSD),可獲取清晰的圖像并 提供成分襯度??梢赃x配二次電子探測器(SED), 完全集成的能譜(EDS)系 統(tǒng)進行元素分析。兼容 ProSuite 拓展軟件,如 ParticleMetric 顆粒統(tǒng)計分析系 統(tǒng)、PoroMetric 孔徑統(tǒng)計分析測量系統(tǒng)、FiberMetric 纖維統(tǒng)計分析測量系統(tǒng)和 3D 粗糙度重建系統(tǒng),來協(xié)助進一步分析樣品。

放置于氬氣手套箱中的 Phenom Ar-C
2 μm
電池陰極顆粒的 SEM 圖像
    
    
 成像模式  | |
光學(xué)顯微鏡 放大倍數(shù):3 – 16x  | |
電子顯微鏡  | 放大倍數(shù):160 –200,000x  | 
照明  | |
光學(xué)  | 明場和暗場模式  | 
電子光學(xué)  | • 長壽命 CeB6 燈絲 • 束斑尺寸連續(xù)可調(diào)  | 
加速電壓  | 基本模式:5kV, 10kV 和 15kV 高級模式:4.8kV - 15kV 連 續(xù)可調(diào),用于成像和元素分析  | 
樣品真空  | 低 - 中 - 高  | 
分辨率  | 優(yōu)于 8 nm  | 
探測器  | |
標配  | 背散射電子探測器  | 
選配  | 二次電子探測器 能譜探測器  | 
圖像檢測  | |
光學(xué)  | 高分辨率彩色導(dǎo)航相機  | 
電子光學(xué)  | 高靈敏度四分割背散射電子探測 器(具有成分模式和形貌模式)  | 
圖像格式  | |
JPEG, TIFF, BMP  | |
圖像分辨率選項  | |
960x600, 1920x1200, 3840x2400, 和 7680x4800 像素  | |
數(shù)據(jù)存儲  | |
USB 閃存, 網(wǎng)絡(luò), 工作站  | |
 • 網(wǎng)口  | |
• 電源口 • USB 接口  | |
    
    
    
 尺寸和重量 主機  | 316(w) x 587(d) x 625(h) mm, 75 kg  | |
隔膜泵  | 145(w) x 220(d) x 213(h) mm, 4.5 kg  | |
電源  | 156(w) x 300(d) x 74(h) mm, 3 kg  | |
顯示器 (24 英寸)  | 531.5 (w) x 250 (d) x 515.4 (h) mm, 6.7 kg  | |
工作站  | • SSD 存儲和 4 個 USB 插槽 • 92.5 (w) x 305.6 (d) x 343.5 (h)mm, 8 kg  | |
樣品尺寸  | ||
• ** 100mm (w) x 100mm (d) x 40mm (h) 樣品掃描區(qū)域 • 50mm x 50mm • 100mm x 100mm(可選)  | ||
樣品加載時間  | ||
光學(xué)  | <5 s  | |
電子光學(xué) 安裝要求  | <60 s  | |
環(huán)境條件  | ||
溫度  | 15 –25°C (59–77°F)  | |
H2O / O2 比例要求  | < 0.5 PPM  | |
電源  | 單相交流 100–240 V, 50/60 Hz, 平均 163 W, ** 348 W  | |
物理參數(shù)  | ||
• 建議桌臺規(guī)格為 150 x 75 cm, 承重至少 150 kg • 隔膜泵必須安裝在無明顯振動處  | ||
可輸出用戶選定的獨立元素 背散射電子圖像
元素 / SEM 混合圖像
    
掃描區(qū)域 任何尺寸的矩形
面掃描像素數(shù)  | 32x20–960x600 像素  | 
像素停留時間  | 1 –500 ms  | 
線掃描  | |
線掃描像素數(shù) 16 –512 像素  | |
線掃描停留時間 10 –500 ms
    
Docx 格式

    
對地質(zhì)樣品進行 EDS Mapping 分析
自動化
Phenom Ar-C 可通過 PPI(Phenom 編程接口)進行標準訪 問,這是一種通過 Python 腳本來運行 Phenom Ar-C 的方法。 可以協(xié)助用戶自動化分析顆粒、孔隙、纖維或大尺寸 SEM 圖像 的重復(fù)性任務(wù)。如果需要,可以根據(jù)您的具體使用需求提供相應(yīng) 的技術(shù)支持。
CeB6 長壽命燈絲
CeB6(六硼化鈰)長壽命燈絲具有以下幾個優(yōu)點。首先,與鎢燈 絲相比,提供的高亮度使用戶更易于獲得具有更多細節(jié)的高質(zhì)量 圖像。第二,燈絲的使用壽命很長,無需頻繁拆開手套箱進行更 換,加上定期的維護保養(yǎng),這可以為用戶帶來長周期的穩(wěn)定體
驗。第三,通過 Phenom 智能軟件可盡可能地延長使用壽命, 當 Phenom Ar-C 未使用時,燈絲進入休眠狀態(tài)。
優(yōu)中心樣品臺
在許多的 SEM 應(yīng)用中,如果樣品可以傾斜和旋轉(zhuǎn),有助于更深 入地了解樣品特性。優(yōu)中心樣品臺就是考慮到這一點而專門開發(fā) 的,該樣品臺可以輕松安全地從各個角度觀察樣品。
高度集成 ProSuite 軟件
操作界面集成化 自動識別譜峰
迭代反卷積算法 置信度指標可視化
導(dǎo)出功能:CSV, JPG, TIFF, ELID, EMSA
    
可 4 個方向移動:Z (高度)、R (旋轉(zhuǎn))、T (傾斜) 和 x' (x-prime)
**樣品尺寸  | |
90° 傾斜放置  | Ø ≤30 mm; 高度 ≤32 mm  | 
< 45° 傾斜放置  | Ø ≤70 mm; 高度 ≤32 mm  | 
傾斜角度  | |
-15° 和 +90°之間  | |
旋轉(zhuǎn)角度  | |
360° 連續(xù)  | |
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企業(yè)名稱
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有限責任公司(自然人投資或控股)信用代碼
91310115594714659N法人代表
樊麗麗注冊地址
上海市閔行區(qū)申濱路88號704單元成立日期
2012-04-19注冊資本
500萬(元)有效期限
2012-04-19 至 2042-04-18
經(jīng)營范圍
一般項目:儀器儀表、實驗室設(shè)備、電子產(chǎn)品及相關(guān)零配件的研發(fā)和銷售;從事儀器儀表技術(shù)領(lǐng)域內(nèi)的技術(shù)開發(fā)、技術(shù)推廣、技術(shù)咨詢、技術(shù)轉(zhuǎn)讓、技術(shù)服務(wù)、技術(shù)交流;貨物進出口;技術(shù)進出口;信息咨詢服務(wù)(不含許可類信息咨詢服務(wù))。(除依法須經(jīng)批準的項目外,憑營業(yè)執(zhí)照依法自主開展經(jīng)營活動)
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