
川源科技(蘇州)有限公司

已認(rèn)證
川源科技(蘇州)有限公司
已認(rèn)證
Particle系列單顆粒力學(xué)測(cè)試儀
致力于解決傳統(tǒng)設(shè)備精度不足、成本高昂及進(jìn)口依賴等問題,實(shí)現(xiàn)單顆粒力學(xué)性能(如抗壓性、反彈性)與電阻特性的一站式高精度檢測(cè)。
應(yīng)用領(lǐng)域
· 單顆粒力學(xué)特性分析檢測(cè)
正/負(fù)極材料研發(fā),指導(dǎo)輥壓壓力、速度等參數(shù)設(shè)定提升極片均勻性
· 單顆粒電阻特性分析檢測(cè)
篩選高電導(dǎo)顆粒
通過電導(dǎo)性數(shù)據(jù)指導(dǎo)電極配方設(shè)計(jì)
性能參數(shù):
背景
· 單顆粒力學(xué)與電子傳輸性能是提升電池性能的核心要素,單顆粒抗壓強(qiáng)度直接影響粉末壓實(shí)密度及極片輥壓工藝優(yōu)化;單顆粒電子電導(dǎo)率則通過降低內(nèi)阻、增強(qiáng)充放電倍率性能及抑制循環(huán)中接觸電阻劣化,保障電極高效電子傳輸。
測(cè)試原理
· 測(cè)試方法:微球顆粒使用溶劑散開后放置在載物臺(tái)上,使用測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行壓縮試驗(yàn),然后再在光學(xué)顯微鏡下觀測(cè);
壓潰過程試驗(yàn)力與壓縮位移的關(guān)系曲線 | 顯微鏡3D掃描:顆粒擠壓 | ![]() |
產(chǎn)品特色
高精度 高精度位移控制與檢測(cè) 高分辨率光學(xué)成像 超高精度力學(xué)檢測(cè) XYZ自動(dòng)位移平臺(tái) | 多種功能模式 單點(diǎn)與線性模式可選 位移控制模式 加壓-卸壓模式 疲勞測(cè)試模式 | 專業(yè)數(shù)據(jù)分析管理 全智能精密力學(xué)控制 關(guān)鍵參數(shù)一站式采集記錄 測(cè)量關(guān)聯(lián)預(yù)測(cè) MySQL數(shù)據(jù)庫管理模式 | 國產(chǎn)替代** 國產(chǎn)替代** 高性價(jià)比 |
應(yīng)用案例
一、硅碳-單顆粒壓潰測(cè)試 · 壓入過程中出現(xiàn)臺(tái)階或突變,表示顆粒發(fā)生局部斷裂/壓潰; · 抗壓強(qiáng)度:藍(lán)色顆粒>綠色顆粒; ·不同顆粒的壓潰位置、壓潰力值并沒有表現(xiàn)出一致的規(guī)律性。 | 二、三元&鐵鋰顆??箟簭?qiáng)度 · 相同方式制備三元和鐵鋰顆粒,對(duì)單顆粒擠壓測(cè)試評(píng)價(jià)顆粒的應(yīng)力應(yīng)變:擠壓力三元顆粒>鐵鋰顆粒。 |
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91330109MA28MP6A67法人代表
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