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2830 ZT品牌
馬爾文帕納科產(chǎn)地
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2830 ZT 波長(zhǎng)色散 X 射線熒光 (WDXRF) 晶圓分析儀提供了用于測(cè)量薄膜厚度和成分的功能。 2830 ZT 晶圓分析儀專門針對(duì)半導(dǎo)體和數(shù)據(jù)存儲(chǔ)行業(yè)而設(shè)計(jì)，該儀器可為多種晶片（厚達(dá) 300 mm）測(cè)定層結(jié)構(gòu)、厚度、摻雜度和表面均勻性。
4 kW SST-mAX X 射線管配備了突破性的 ZETA 技術(shù)，可以消除 X 射線管老化效應(yīng)。 這種“全新射線管”性能可以在 X 射線管整個(gè)壽命期間得到保持，同時(shí)高靈敏度與 ZETA 技術(shù)相結(jié)合，確保了在 X 射線管壽命期間可以一直提供快速的分析和簡(jiǎn)短的測(cè)量時(shí)間。 ZETA 技術(shù)顯著減少了對(duì)于漂移校正和重新校準(zhǔn)的需求，從而提高了儀器的生產(chǎn)率和正常運(yùn)行時(shí)間。
傳統(tǒng) X 射線管會(huì)出現(xiàn)鎢燈絲揮發(fā)，從而導(dǎo)致光管鈹窗內(nèi)部出現(xiàn)沉淀物污染鈹窗。 使用此類 X 射線管的儀器需要定期進(jìn)行漂移校正以補(bǔ)償下降的強(qiáng)度，尤其是對(duì)于輕元素而言。
2830 ZT 采用 SST-mAX 射線管解決了這一漂移問題，從而大大提升了正常運(yùn)行時(shí)間并能夠隨著時(shí)間的推移維持儀器精度。
2830 ZT 配置SuperQ 軟件，該軟件包含了 FP Multi - 一個(gè)專門針對(duì)多層分析開發(fā)的專用軟件包。 該軟件的用戶界面確保即使是沒有經(jīng)驗(yàn)的操作員也可以對(duì)多層進(jìn)行全自動(dòng)的基本參數(shù)分析。
該儀器的 SuperQ 軟件具有多種易于使用的模塊，這些模塊能夠方便研究者和工程師進(jìn)行靈活的操作。 可以輕松切換配方和調(diào)整設(shè)備參數(shù)以適應(yīng)用戶偏好。
FALMO-2G 可輕松集成到任意實(shí)驗(yàn)室或晶片廠中：從簡(jiǎn)單的人工托架裝載到全自動(dòng)。 完全靈活的設(shè)計(jì)讓晶片廠經(jīng)理能夠選擇 FOUP、SMIF 或開放式裝入端口，配有一個(gè)或兩個(gè)裝入端口配置。 各種配置的 FALMO-2G 均受到符合 GEM300 的軟件支持。 FALMO-2G 的占地空間大大降低，而沒有損失靈活性、功能。
該儀器的 SuperQ 軟件具備多種易用使用的模塊，這些模塊能夠方便研究者和工程師進(jìn)行靈活的操作。 可以輕松切換配方和調(diào)整設(shè)備參數(shù)以適應(yīng)用戶偏好。
波長(zhǎng)色散 X 射線熒光 (WDXRF)
隨著動(dòng)力電池和新能源汽車的需求爆發(fā)，鋰電正極材料也正在快速迭代，其中三元材料逐漸成為動(dòng)力電池的主流選擇。目前三元材料中的鎳鈷錳成分分析多采用ICP分析方法，化學(xué)分析過程相對(duì)復(fù)雜、分析時(shí)間長(zhǎng)、梯度稀釋誤
2021-08-06
XRF在鋰電正極材料元素分析中的應(yīng)用 水泥和似水泥物（混合材）體系水化過程的X射線衍射分析 馬爾文帕納科綜合樣本手冊(cè) 
月壤分析最新突破近日，中科院地質(zhì)與地球物理研究所巖石圈演化與環(huán)境演變?nèi)珖?guó)重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室的研究團(tuán)隊(duì)（ 薛丁帥高級(jí)工程師和劉艷紅高級(jí)工程師為并列第一作者 ）聯(lián)合中國(guó)科學(xué)院國(guó)家天文臺(tái)在《Analytical C
活動(dòng)回顧近日，第十八屆藥機(jī)展（PMEC 2025 ）在上海新國(guó)際博覽中心落下帷幕，馬爾文帕納科攜麥克默瑞提克在此次展會(huì)所展示的顆粒、粉體等先進(jìn)表征技術(shù)備受業(yè)內(nèi)人士關(guān)注。稍顯遺憾的是很多行業(yè)
展期：2025年6月24日-26日展館：上海新國(guó)際博覽中心W5館地址：上海市浦東新區(qū)龍陽路2345號(hào)展位號(hào)：W5P10W5P10 馬爾文帕納科展位效果圖2025年6月24日至26日，馬爾文帕納科（Ma
本文摘要在上一期《進(jìn)階之旅 | 如何提升粉末衍射檢測(cè)靈敏度》推文中，我們介紹了在日常工作中通過優(yōu)化制樣、測(cè)量參數(shù)和光路模塊來提高對(duì)微量晶型（混合物中的低含量成分）和微量樣品（總量極低的樣品）的檢測(cè)靈敏
粒度儀數(shù)據(jù)反映顆粒的大小分布，而分形維數(shù)則是對(duì)這種分布背后 “形態(tài)復(fù)雜性” 的量化。通過計(jì)算分形維數(shù)，能從傳統(tǒng)粒度分析中挖掘出更深層的結(jié)構(gòu)信息，為理解顆粒的形成機(jī)制、優(yōu)化制備工藝、預(yù)測(cè)性能提供重要依據(jù)
本文摘要SiC端面傾角度數(shù)會(huì)影響晶體生長(zhǎng)動(dòng)力學(xué)、界面特性和器件的電場(chǎng)分布，決定了SiC功率器件的性能，傾角控制精度已從“工藝參數(shù)”升級(jí)為“核心競(jìng)爭(zhēng)力”，本文將介紹4°傾角及其方向的重要性，以及馬爾文帕
2830 ZT 晶圓分析儀的工作原理介紹？2830 ZT 晶圓分析儀的使用方法？2830 ZT 晶圓分析儀多少錢一臺(tái)？2830 ZT 晶圓分析儀使用的注意事項(xiàng)2830 ZT 晶圓分析儀的說明書有嗎？2830 ZT 晶圓分析儀的操作規(guī)程有嗎？2830 ZT 晶圓分析儀的報(bào)價(jià)含票含運(yùn)費(fèi)嗎？2830 ZT 晶圓分析儀有現(xiàn)貨嗎？2830 ZT 晶圓分析儀包安裝嗎？
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