參考價(jià)格
面議型號(hào)
Morphologi 4品牌
馬爾文帕納科產(chǎn)地
歐洲樣本
暫無(wú)測(cè)量范圍:
0.5 μm - 1300 μm誤差率:
N/A分辨率:
N/A重現(xiàn)性:
N/A儀器原理:
圖像分析分散方式:
N/A測(cè)量時(shí)間:
N/A看了馬爾文帕納科全自動(dòng)粒度粒形分析儀 Morphologi 4的用戶(hù)又看了
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Morphologi 4 是一個(gè)全自動(dòng)靜態(tài)圖像分析系統(tǒng),可測(cè)量干粉顆粒,混懸液和濾膜上顆粒的粒徑和形貌。它旨在滿(mǎn)足多學(xué)科研發(fā)實(shí)驗(yàn)室的多樣化需求,是昂貴且耗時(shí)的手動(dòng)顯微鏡的理想替代工具。由于完全自動(dòng)化運(yùn)行且數(shù)據(jù)分析簡(jiǎn)單,與手動(dòng)方法相比,節(jié)約大量的時(shí)間。僅需簡(jiǎn)單標(biāo)準(zhǔn)化操作程序 (SOP) 的驅(qū)動(dòng)操作,即可執(zhí)行可靠的可重復(fù)測(cè)量。謹(jǐn)慎控制并審視所有關(guān)鍵因素,從分散狀況、樣品聚焦和光源一直到數(shù)據(jù)分析和報(bào)告,提供可靠的數(shù)據(jù)結(jié)果。
顆粒粒度范圍廣泛,從 0.5 微米到 1300 微米以上,可對(duì)各種樣品進(jìn)行粒度測(cè)量
20 多種形態(tài)參數(shù)提供了高度詳細(xì)的描述,有助于您更深入地了解顆粒物
SOP 控制從樣品分散到數(shù)據(jù)分析的全過(guò)程,提供簡(jiǎn)單、自動(dòng)化的操作,確??煽康目芍貜?fù)測(cè)量
自動(dòng)化“清晰邊緣(Sharp Edge)”分析,可檢測(cè)低對(duì)比度顆粒
高級(jí)手動(dòng)顯微鏡模式以及顆?;乜垂δ芸蓪?duì)預(yù)期之外的顆粒進(jìn)行更仔細(xì)的檢查
高分辨率顯微鏡能夠確保生成高質(zhì)量顆粒圖像,從而提供可靠的圖像分析數(shù)據(jù)
集成干粉分散裝置提供可重復(fù)的樣品分散,這對(duì)生成有意義的結(jié)果至關(guān)重要
專(zhuān)用樣品展示配件可實(shí)現(xiàn)各類(lèi)樣品的檢測(cè),包括懸浮液和濾膜上的樣
高級(jí)數(shù)據(jù)探索工具,可提供大量樣本知識(shí)
21 CFR Part 11 軟件選項(xiàng)確保了法規(guī)合規(guī)性
Morphologi 4 測(cè)量步驟分為四部分:
樣品制備
對(duì)單個(gè)顆粒和附聚物進(jìn)行空間分離對(duì)于生成有代表性的結(jié)果至關(guān)重要。 集成式干粉分散器使干粉樣品的制備過(guò)程變得簡(jiǎn)單且可重現(xiàn)。 所施加的分散能量可受到控制,從而可對(duì)一系列材料類(lèi)型優(yōu)化測(cè)定流程。 無(wú)需爆炸性震動(dòng)顆粒即可實(shí)現(xiàn)分散,從而既可避免易碎顆粒受損,又能確保高團(tuán)聚度材料實(shí)現(xiàn)分散。 可利用能夠直接安裝到 Morphologi 4 自動(dòng)化樣品臺(tái)中的配件制備懸浮液樣品或過(guò)濾后的樣品。
圖像捕捉
儀器通過(guò)掃描光學(xué)顯微鏡下的樣品捕捉單個(gè)顆粒的圖像。 Morphologi 4 的光源可從下方或上方照射樣品,同時(shí)可對(duì)亮度實(shí)現(xiàn)控制。
圖像處理
利用自動(dòng)化“清晰邊緣(Sharp Edge)”分割分析或通過(guò)手動(dòng)控制的閾值,對(duì)顆粒進(jìn)行檢測(cè)并計(jì)算每個(gè)顆粒的形態(tài)屬性范圍。
生成結(jié)果
通過(guò)對(duì)數(shù)以千計(jì)的顆粒進(jìn)行分析,以統(tǒng)計(jì)學(xué)方式為每個(gè)參數(shù)構(gòu)建富有代表性的分布。 軟件中的圖表與數(shù)據(jù)分類(lèi)選項(xiàng),通過(guò)直觀的界面,確保直接從您的測(cè)量中選取相關(guān)數(shù)據(jù)。 每個(gè)顆粒單獨(dú)存儲(chǔ)的灰度圖像可為定量結(jié)果提供定性驗(yàn)證。
暫無(wú)數(shù)據(jù)!
隨著動(dòng)力電池和新能源汽車(chē)的需求爆發(fā),鋰電正極材料也正在快速迭代,其中三元材料逐漸成為動(dòng)力電池的主流選擇。目前三元材料中的鎳鈷錳成分分析多采用ICP分析方法,化學(xué)分析過(guò)程相對(duì)復(fù)雜、分析時(shí)間長(zhǎng)、梯度稀釋誤
2021-08-06
月壤分析最新突破近日,中科院地質(zhì)與地球物理研究所巖石圈演化與環(huán)境演變?nèi)珖?guó)重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室的研究團(tuán)隊(duì)( 薛丁帥高級(jí)工程師和劉艷紅高級(jí)工程師為并列第一作者 )聯(lián)合中國(guó)科學(xué)院國(guó)家天文臺(tái)在《Analytical C
活動(dòng)回顧近日,第十八屆藥機(jī)展(PMEC 2025 )在上海新國(guó)際博覽中心落下帷幕,馬爾文帕納科攜麥克默瑞提克在此次展會(huì)所展示的顆粒、粉體等先進(jìn)表征技術(shù)備受業(yè)內(nèi)人士關(guān)注。稍顯遺憾的是很多行業(yè)
展期:2025年6月24日-26日展館:上海新國(guó)際博覽中心W5館地址:上海市浦東新區(qū)龍陽(yáng)路2345號(hào)展位號(hào):W5P10W5P10 馬爾文帕納科展位效果圖2025年6月24日至26日,馬爾文帕納科(Ma
本文摘要在上一期《進(jìn)階之旅 | 如何提升粉末衍射檢測(cè)靈敏度》推文中,我們介紹了在日常工作中通過(guò)優(yōu)化制樣、測(cè)量參數(shù)和光路模塊來(lái)提高對(duì)微量晶型(混合物中的低含量成分)和微量樣品(總量極低的樣品)的檢測(cè)靈敏
粒度儀數(shù)據(jù)反映顆粒的大小分布,而分形維數(shù)則是對(duì)這種分布背后 “形態(tài)復(fù)雜性” 的量化。通過(guò)計(jì)算分形維數(shù),能從傳統(tǒng)粒度分析中挖掘出更深層的結(jié)構(gòu)信息,為理解顆粒的形成機(jī)制、優(yōu)化制備工藝、預(yù)測(cè)性能提供重要依據(jù)
本文摘要SiC端面傾角度數(shù)會(huì)影響晶體生長(zhǎng)動(dòng)力學(xué)、界面特性和器件的電場(chǎng)分布,決定了SiC功率器件的性能,傾角控制精度已從“工藝參數(shù)”升級(jí)為“核心競(jìng)爭(zhēng)力”,本文將介紹4°傾角及其方向的重要性,以及馬爾文帕