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▼概要
自動**反射率測量裝置一邊變化照到樣品的入射角，一邊測量反射率以及透過。用于太陽能電池零件，半導(dǎo)體，薄膜，光學(xué)元件等各種固體樣品的分光特性或者膜厚等的測量。入射角通過旋轉(zhuǎn)樣品臺設(shè)定，受光角通過滑動積分球控制。另外，能用非同步方式分別設(shè)定入射角和受光角。而且，根據(jù)任意設(shè)定P偏光和S偏光角度，能研究樣品的偏光特性。
可選擇用在緊湊的中型機(jī)種V-600系列紫外可見近紅外分光光度計(jì)上，也可以選擇用在適合高分辨率，高吸光度測量的V-7000系列紫外可見近紅外分光光度計(jì)上。
◆裝置特點(diǎn)
?PC直接控制設(shè)定角度及光譜測量等條件?測量范圍廣，從紫外到近紅外區(qū)域?雙光束光學(xué)系統(tǒng)，測光穩(wěn)定性好?可分別控制入射角、受光角?標(biāo)配偏光測量功能?專用的樣品池支架，樣品的裝卸簡單
◆規(guī)格
▼ARMV-734/ARMN-735 自動**反射率測量組件（V-600用）
型號 | ARMV-734 | ARMN-735 |
測定波長范圍 | 250～850nm | 250～2000nm |
測量方式 | 測量**反射率、測量透過率 | |
入射角 | 5°～ 60°(測量**反射率）、0°～ 60°(測量透過) 0 ～ 85℃（大入射角樣品支架、選項(xiàng)) | |
角度間隔 | 0.1°間隔 | |
設(shè)定方式 | 同期、非同期（入射部和受光部） | |
測量偏光 | S 偏光( 0°)、P 偏光( 90°)、N 偏光( 45°)、任意設(shè)定 | |
※ARMV-734用于V-650，660、ARMN-735用于V-670。
▼VAR-7010/7020/7030 自動**反射率測量組件（V-7000用）
型號 | VAR-7010 | VAR-7020 | VAR-7030 |
測量波長范圍 | 250～900nm | 250～2000nm | 250～1800nm |
測定方式 | 測量**反射率、測量透過率 | ||
入射角 | 5°～ 60°(測量**反射率）、0°～ 60°(測量透過) 0 ～ 85℃（大入射角樣品支架、選項(xiàng)) | ||
角度間隔 | 0.1°間隔 | ||
設(shè)定方式 | 同期、非同期（入射部和受光部） | ||
測量偏光 | S 偏光( 0°)、P 偏光( 90°)、N 偏光( 45°) | ||
※VAR-7010用于V-7100、VAR-7020用于V-7200、 VAR-7030用于V-7300。
暫無數(shù)據(jù)！
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