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用于晶體取向測量的 SDCOM 小型衍射儀
用于單晶（晶錠和晶圓）的材料研究、生產(chǎn)和質(zhì)量控制的臺式XRD設(shè)備。
Si | SiC | 金剛石 | AIN | GaAs | 石英 | LiNbO? | bbo | GaN 和其他一百多種材料。
SDCOM的特點
超快速測量：樣品旋轉(zhuǎn)一次（即10秒內(nèi)）即可捕獲所有所需的晶體取向參數(shù)
多種樣品尺寸：可測量直徑從1mm到200mm的樣品
可對任何單晶材料進行全自動分析和取向測定
典型標準偏差 (Si 100)：傾角幅度＜0.01° ，傾角方向＜0.03°
正常運行時間：＞99%
Theta 掃描功能：用于復(fù)雜的研究和材料表征
轉(zhuǎn)移技術(shù)：實現(xiàn)一束切割光束中*多可處理6個定向好的晶體
可與SECS/GEM等MES集成
暫無數(shù)據(jù)！
隨著動力電池和新能源汽車的需求爆發(fā)，鋰電正極材料也正在快速迭代，其中三元材料逐漸成為動力電池的主流選擇。目前三元材料中的鎳鈷錳成分分析多采用ICP分析方法，化學(xué)分析過程相對復(fù)雜、分析時間長、梯度稀釋誤
2021-08-06
XRF在鋰電正極材料元素分析中的應(yīng)用 水泥和似水泥物（混合材）體系水化過程的X射線衍射分析 馬爾文帕納科綜合樣本手冊 
XRD（X 射線衍射）高通量測試是一種能在短時間內(nèi)對大量樣品進行快速分析的技術(shù)，其發(fā)展與應(yīng)用主要源于傳統(tǒng) XRD 測試在面對復(fù)雜樣品體系和大規(guī)模分析需求時的局限性。馬爾文帕納科最新推出了Aeris高容
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本文摘要2024年度的Malvern Panalytical Scientific Award授予了中國青年科學(xué)家——北京大學(xué)高磊博士。日前，高磊博士親臨馬爾文帕納科位于上海的亞太卓越應(yīng)用中心，現(xiàn)場接
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本文摘要在使用XRD對樣品進行物相鑒定或定量分析時，會遇到檢測樣本中目標成分含量極低，或樣本量本身就非常少的這兩種極端樣品情況。這時，使用常量樣品的測試方法通常是不合適的，需要根據(jù)樣品的實際情況進行方
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