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用于晶體取向測量的 SDCOM 小型衍射儀
用于單晶(晶錠和晶圓)的材料研究、生產和質量控制的臺式XRD設備。
Si | SiC | 金剛石 | AIN | GaAs | 石英 | LiNbO? | bbo | GaN 和其他一百多種材料。
SDCOM的特點
超快速測量:樣品旋轉一次(即10秒內)即可捕獲所有所需的晶體取向參數(shù)
多種樣品尺寸:可測量直徑從1mm到200mm的樣品
可對任何單晶材料進行全自動分析和取向測定
典型標準偏差 (Si 100):傾角幅度<0.01° ,傾角方向<0.03°
正常運行時間:>99%
Theta 掃描功能:用于復雜的研究和材料表征
轉移技術:實現(xiàn)一束切割光束中*多可處理6個定向好的晶體
可與SECS/GEM等MES集成
暫無數(shù)據(jù)!
隨著動力電池和新能源汽車的需求爆發(fā),鋰電正極材料也正在快速迭代,其中三元材料逐漸成為動力電池的主流選擇。目前三元材料中的鎳鈷錳成分分析多采用ICP分析方法,化學分析過程相對復雜、分析時間長、梯度稀釋誤
2021-08-06
月壤分析最新突破近日,中科院地質與地球物理研究所巖石圈演化與環(huán)境演變全國重點實驗室的研究團隊( 薛丁帥高級工程師和劉艷紅高級工程師為并列第一作者 )聯(lián)合中國科學院國家天文臺在《Analytical C
活動回顧近日,第十八屆藥機展(PMEC 2025 )在上海新國際博覽中心落下帷幕,馬爾文帕納科攜麥克默瑞提克在此次展會所展示的顆粒、粉體等先進表征技術備受業(yè)內人士關注。稍顯遺憾的是很多行業(yè)
展期:2025年6月24日-26日展館:上海新國際博覽中心W5館地址:上海市浦東新區(qū)龍陽路2345號展位號:W5P10W5P10 馬爾文帕納科展位效果圖2025年6月24日至26日,馬爾文帕納科(Ma
本文摘要在上一期《進階之旅 | 如何提升粉末衍射檢測靈敏度》推文中,我們介紹了在日常工作中通過優(yōu)化制樣、測量參數(shù)和光路模塊來提高對微量晶型(混合物中的低含量成分)和微量樣品(總量極低的樣品)的檢測靈敏
粒度儀數(shù)據(jù)反映顆粒的大小分布,而分形維數(shù)則是對這種分布背后 “形態(tài)復雜性” 的量化。通過計算分形維數(shù),能從傳統(tǒng)粒度分析中挖掘出更深層的結構信息,為理解顆粒的形成機制、優(yōu)化制備工藝、預測性能提供重要依據(jù)
本文摘要SiC端面傾角度數(shù)會影響晶體生長動力學、界面特性和器件的電場分布,決定了SiC功率器件的性能,傾角控制精度已從“工藝參數(shù)”升級為“核心競爭力”,本文將介紹4°傾角及其方向的重要性,以及馬爾文帕