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常規(guī)硅片
常規(guī)硅片

參考價(jià)格

面議

型號(hào)

常規(guī)硅片

品牌

晶沐光電

產(chǎn)地

江蘇

樣本

暫無(wú)
江陰晶沐光電新材料有限公司

高級(jí)會(huì)員

|

第1年

|

生產(chǎn)商

工商已核實(shí)

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核心參數(shù)
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介紹:硅片的原始材料是高純度的多晶硅,經(jīng)過(guò)一系列復(fù)雜的加工工藝,包括晶體生長(zhǎng)、研磨、拋光、切片等步驟后形成,以滿(mǎn)足半導(dǎo)體芯片制造的要求。

?

應(yīng)用:硅片廣泛用于集成電路(IC)、功率半導(dǎo)體、傳感器和光電子器件,是半導(dǎo)體行業(yè)的核心材料。它支撐了智能手機(jī)、計(jì)算機(jī)、5G通信、新能源汽車(chē)、工業(yè)控制等領(lǐng)域的發(fā)展。隨著先進(jìn)封裝和硅光子技術(shù)的進(jìn)步,硅片在高性能計(jì)算(HPC)和光通信中發(fā)揮著重要作用。

產(chǎn)品規(guī)格書(shū)


??

單晶硅襯底(2~12英寸)

直徑

50.8mm

76.2mm

100mm

150mm

200mm

300.mm

厚度

400μm

400μm

500μm

625μm

725μm

775μm

表面晶向

<100>   ∣   <111>    ∣    <110>

生長(zhǎng)方式

CZ  ∣  FZ

摻雜類(lèi)型

N-type(Si-doping/As-doping/Sb-doping)

P-type(B-Doping)

Intrinsic

定位邊晶向

16mm

22mm

32.5mm

47.5mm

Notch

Notch

電阻率

0.001-0.005ohm-cm

1-100ohm-cm

>10000ohm-cm

正面狀態(tài)

Epi-polished,Ra<0.5nm

反面狀態(tài)

SSP:Etch; DSP:Epi-polished,Ra<0.5nm

總厚度偏差TTV

≤8μm

≤10μm

≤10μm

≤20μm

≤30μm

≤30μm

彎曲度BOW

≤10μm

≤12μm

≤15μm

≤25μm

≤40μm

≤45μm

翹曲度WARP

≤12μm

≤15μm

≤20μm

≤30μm

≤60μm

≤60μm

邊緣去除

≤2 mm

≤3 mm


?

產(chǎn)品性能表


?

單晶硅 Si

Growth Method
生長(zhǎng)方式

CZ/FZ

Crystal Structure
晶體結(jié)構(gòu)

Diamond

Lattice Constant(nm)
晶格常數(shù)

a=5.4305?

Density(g/cm3)
密度

2.329

Melting point
熔點(diǎn)(℃)

1410℃

Mohs Hardness(mohs)
莫氏硬度

7

Dielectric Constant
介電常數(shù)

11.8

Band Gap(eV)
禁帶寬度

1.1

Breakdown Electrical Field ((MV/cm))
擊穿電場(chǎng)

0.3

Thermal Conductivity(n-type)(W/cm.K )
熱導(dǎo)率(導(dǎo)電型)

1.48

Electron Mobility(cm2·V-1·s-1)
電子遷移率

1480

熱膨脹系數(shù)

2.6×10^-6 /℃

折射率

3.5


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產(chǎn)品質(zhì)量

10分

售后服務(wù)

10分

易用性

10分

性?xún)r(jià)比

10分
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